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反应性高功率脉冲磁控溅射沉积含铜纳米团簇的类金刚石碳膜:脉冲长度效应

DOI:10.1016/j.tsf.2019.01.011 期刊:Thin Solid Films 出版年份:2019 更新时间:2025-09-23 15:23:52
摘要: 在本研究中,采用反应性高功率脉冲磁控溅射(HIPIMS)技术制备了含铜纳米团簇的类金刚石碳膜(DLC:Cu薄膜)。研究考察了HIPIMS脉冲长度(脉冲开启时间)的影响,发现化学成分与脉冲长度存在依赖关系。通过拉曼散射光谱分析该纳米复合薄膜中类金刚石碳基体的结构表明,sp3/sp2碳键比例随HIPIMS脉冲长度增加而轻微上升。氦离子显微镜对铜纳米团簇形貌和尺寸的研究显示,HIPIMS脉冲开启时间的延长会导致纳米团簇数量增多及后续尺寸增大。光学性能研究表明所有测试薄膜均呈现表面等离子体共振效应,且发现光学吸收光谱与泵浦-探测光谱记录的光激发载流子弛豫时间存在关联。当激发波长接近表面等离子体共振吸收峰波长时,观测到最长的弛豫时间。使用400微秒HIPIMS脉冲开启时间制备的DLC:Cu薄膜表现出最大弛豫时间,这归因于弛豫时间与铜纳米团簇尺寸的依存关系。
作者: ?. Me?kinis,A. Vasiliauskas,M. Andrulevi?ius,A. Jurkevi?iūt?,D. Peckus,S. Tamulevi?ius
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研究概述 实验方案 设备清单

研究高功率脉冲磁控溅射(HIPIMS)脉冲长度(脉冲开启时间)对反应性HIPIMS沉积的DLC:Cu薄膜成分、结构及性能的影响。

HIPIMS脉冲长度显著影响DLC:Cu薄膜的成分、结构和性能。当脉冲长度增加至300微秒时,铜原子浓度降低而碳原子浓度升高,sp3/sp2键比例仅有微弱提升。更长的脉冲会产生更多更大的铜纳米团簇,从而改变光学特性(如表面等离子体共振和载流子弛豫时间)。采用400微秒脉冲时获得了最长的弛豫时间,这归因于更大的纳米团簇尺寸,表明通过控制HIPIMS沉积中的脉冲长度可优化薄膜性能。

该研究仅限于特定沉积条件(如固定气体流量、基片-靶材间距)和脉冲长度范围(50-400微秒)。较长脉冲(如400微秒)下沉积过程的不稳定性可能影响结果。sp3/sp2键比例变化相对较小,且与纳米团簇尺寸及光学性能的关联性尚未完全阐明。

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