1：实验设计与方法选择：

本研究采用不同稳定剂（硫代乙醇酸、2-巯基乙醇、半胱氨酸、半胱胺）在水相中合成CdSe量子点，并通过旋涂法制备以PVA为基质的纳米复合薄膜。采用紫外-可见光谱、荧光光谱、热重分析(TGA)、差示扫描量热法(DSC)、漫反射光谱(DRS)和原子力显微镜(AFM)等技术分析其光学、热学、介电及形貌特性。

2：样品选择与数据来源：

CdSe量子点以前驱体（如水合硫酸镉和硒粉）配合特定稳定剂合成，PVA作为聚合物基质。所有材料均购自供应商且未经进一步纯化直接使用。

3：实验设备与材料清单：

设备包括紫外-可见-近红外分光光度计(岛津UV-3600)、荧光光谱仪(堀场Felix 32)、原子力显微镜(布鲁克Multimode 8)、热重分析仪(TA仪器TGA 500)、差示扫描量热仪(梅特勒托利多DSC3+)、漫反射分析仪(Novocontrol Alpha)、旋涂机(Specialty Coating Systems P6700)和千分尺(三丰QuantuMike)。材料包含PVA、CdSe前驱体、稳定剂及溶剂。

4：0)、荧光光谱仪(堀场Felix 32)、原子力显微镜(布鲁克Multimode 8)、热重分析仪(TA仪器TGA 500)、差示扫描量热仪(梅特勒托利多DSC3+)、漫反射分析仪(Novocontrol Alpha)、旋涂机(Specialty Coating Systems P6700)和千分尺(三丰QuantuMike)。材料包含PVA、CdSe前驱体、稳定剂及溶剂。 实验流程与操作步骤：

4. 实验流程与操作步骤：CdSe量子点通过在特定pH值和配比下，使CdSO4与Na2SeSO3在稳定剂存在条件下反应合成。纳米复合材料通过混合量子点溶液与PVA溶液、旋涂成膜并干燥制得。表征过程包括测量薄膜厚度、进行光谱/热学/介电分析以及AFM形貌成像。

5：数据分析方法：

采用标准方法处理数据——通过紫外-可见光谱计算粒径，TGA分析热分解过程，DSC测定热转变，DRS获取介电性能，AFM图像分析形貌特征。