研究目的
采用125Te核磁共振和阻抗谱技术研究绝缘体Al2O3纳米颗?；旌系耐仄司堤錌i2Te3纳米颗粒，以增强并区分其表面电学特性。
研究成果
将Bi2Te3纳米颗粒与Al2O3纳米颗粒混合可增强表面金属特性，核磁共振显示其奈特位移增大，阻抗谱表明表面电阻降低。阻抗谱已被证实是区分拓扑绝缘体表面特性的有效方法。
研究不足
在合成过程中难以大范围控制纳米粒子的尺寸；因此采用与绝缘纳米粒子混合的方法作为替代方案。温度对表面电子传输的影响需要更谨慎的研究方法。
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<sup>125</sup>Te核磁共振与阻抗谱研究：掺杂绝缘体Al<sub>2</sub>O<sub>3</sub>纳米颗粒的拓扑绝缘体Bi<sub>2</sub>Te<sub>3</sub>纳米颗粒
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<sup>125</sup>Te核磁共振与阻抗谱研究：掺杂绝缘体Al<sub>2</sub>O<sub>3</sub>纳米颗粒的拓扑绝缘体Bi<sub>2</sub>Te<sub>3</sub>纳米颗粒
DOI：10.1088/2053-1591/aaf524
期刊：Materials Research Express
出版年份：2018
更新时间：2025-09-23 15:23:52
摘要：
我们通过125Te核磁共振（NMR）和阻抗谱研究了与绝缘体Al2O3纳米颗?；旌系耐仄司堤錌i2Te3纳米颗粒。125Te NMR线形测量显示，卫星峰的奈特位移随Al2O3纳米颗?；旌媳壤脑黾佣龃?，表明混合提高了Bi2Te3纳米颗粒的表面体积比。研究还表明，阻抗谱可作为区分拓扑绝缘体表面电学性质的通用简便有效手段。
作者：
Dong Min Choi，Kyu Won Lee，Cheol Eui Lee
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