研究目的
研究可行的射频识别(RFID)及天线技术,在不开启低温容器、不将高脚杯/罐体提升至容器顶部的情况下实现稻草审计,重点关注链路预算、天线尺寸、-196℃环境下电子器件的可靠运行,以及具备防碰撞功能的快速数据采集等挑战。
研究成果
所提出的RFID审计方案适用于低温保存,具有足够的链路预算,在强耦合情况下仍能保持可接受的天线效率,FET晶体管在-196oC下表现出可靠的性能,且防碰撞方法能够实现快速数据采集。该方案比现有方法具有更高的效率和可靠性,同时将样本损坏风险降至最低,并明确了未来工作的方向。
研究不足
该研究基于模拟和有限测量;实际应用可能面临精确环境条件、数千个标签的可扩展性以及潜在未建模损耗等挑战?;ヱ詈途骞芷玫挠呕山徊教剿?。
1:实验设计与方法选择:
本研究采用FDTD数值模拟评估链路预算和天线效率,通过测量表征晶体管I-V特性,并分析防碰撞算法。
2:样本选择与数据来源:
模拟涉及低温容器中的偶极子设置;测量使用BC546 BJT和BF245C FET等晶体管,在室温和低温条件下进行。
3:实验设备与材料清单:
包括用于模拟的CST MWS 2016软件、晶体管(如BC546、BF245C)以及低温管。
4:BF245C)以及低温管。
实验步骤与操作流程:
4. 实验步骤与操作流程:模拟对标签和读取器偶极子的不同位置建模;测量将晶体管浸入液氮以记录I-V曲线;防碰撞分析采用C1G2标准中的Q算法。
5:数据分析方法:
通过理论模型和标准协议分析结果,评估信号强度、效率、晶体管性能及读取时间。
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