研究目的
为研究纳米晶正交相氮化硼(oBN)薄膜相较于立方相氮化硼(cBN)薄膜在增强场发射性能方面的表现,重点关注其形貌与结构特征。
研究成果
纳米晶正交氮化硼(oBN)薄膜展现出显著增强的场发射性能,与立方氮化硼(cBN)薄膜相比具有更低的开启电场和更高的电流密度。这归因于其独特的蜂窝状结构中分布岛状形态及类蜂窝内部结构,能有效降低势垒高度。该研究证实了oBN薄膜作为场发射器件候选材料的潜力。
研究不足
该研究仅限于特定沉积条件(如射频功率、气体混合物、基底类型),可能无法推广到其他参数或基底。增强机制归因于形貌与结构,但未涉及大面积场发射器件进一步的优化及规?;侍?。
1:实验设计与方法选择:
本研究采用射频磁控溅射技术在石墨基底上沉积oBN薄膜,该方法能在特定条件下产生具有独特形貌的薄膜?;谙惹把芯?,选择此方法以实现低能离子轰击下的高质量oBN薄膜。
2:样品选择与数据来源:
样品为经机械抛光处理的石墨箔基底。通过多种表征技术获取沉积oBN薄膜的数据。
3:实验设备与材料清单:
设备包括射频磁控溅射系统(频率13.6 MHz,功率120 W)、hBN圆盘靶材(纯度99.9%,直径60 mm)、石墨基底、用于沉积和场发射测量的真空腔室、SEM、AFM、TEM、XRD及FTIR光谱仪。材料包含氩气和氮气。
4:6 MHz,功率120 W)、hBN圆盘靶材(纯度9%,直径60 mm)、石墨基底、用于沉积和场发射测量的真空腔室、SEM、AFM、TEM、XRD及FTIR光谱仪。材料包含氩气和氮气。 实验流程与操作步骤:
4. 实验流程与操作步骤:沉积过程在基础压强低于3×10?? Pa、基底温度450°C、工作压强1.8 Pa的条件下进行,沉积时间15分钟,气体混合比例为85%氩气与15%氮气。场发射测量在2×10?? Pa真空腔室中采用二极管构型完成,阴极(oBN薄膜)与阳极(导电玻璃)间距150微米,样品面积为1平方厘米。
5:8 Pa的条件下进行,沉积时间15分钟,气体混合比例为85%氩气与15%氮气。场发射测量在2×10?? Pa真空腔室中采用二极管构型完成,阴极(oBN薄膜)与阳极(导电玻璃)间距150微米,样品面积为1平方厘米。 数据分析方法:
5. 数据分析方法:通过XRD进行物相鉴定,FTIR分析化学键,SEM和AFM观察形貌与粗糙度,TEM研究内部结构,利用J-E曲线评估场发射性能并通过Fowler-Nordheim方程解析发射机制。
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r.f. magnetron sputtering system
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Used for depositing oBN thin films on graphite substrate
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hBN disk target
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Sputter target for deposition
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graphite substrate
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Base material for film deposition
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SEM
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Used for morphology characterization
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AFM
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Used for surface roughness measurement
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TEM
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Used for internal structure analysis
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XRD
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Used for phase identification
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FTIR spectrometer
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Used for bonding analysis
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vacuum chamber
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Used for deposition and FE measurements
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