1：实验设计与方法选择：

本研究采用垂直布里奇曼法进行晶体生长，使用双壁安瓿控制热应力和成核。表征方法包括：TG-DTA用于热分析，SXRD和PXRD用于结构分析，NMR和FTIR用于键合与官能团分析，UV-Vis-NIR用于光学透射率，z扫描用于非线性光学特性，介电测量用于电学性能。

2：样品选择与数据来源：

原料2H1N购自西格玛奥德里奇（技术级，H45353）。晶体在实验室内部生长并分析。

3：实验设备与材料清单：

设备包括垂直布里奇曼炉、双壁硼硅酸盐玻璃安瓿（3.3型玻璃）、布鲁克KAPPA APEXII单晶X射线衍射仪、布鲁克D8 Advance粉末X射线衍射仪、布鲁克Avance III 500 MHz核磁共振波谱仪、珀金埃尔默Spectrum1 ATR-FT-IR仪器、珀金埃尔默Lambda-35 UV-Vis-NIR光谱仪、配备532 nm二极管泵浦Nd:YAG激光器的z扫描装置，以及日置3532-50 LCR HiTester用于介电测量。

4：3型玻璃）、布鲁克KAPPA APEXII单晶X射线衍射仪、布鲁克D8 Advance粉末X射线衍射仪、布鲁克Avance III 500 MHz核磁共振波谱仪、珀金埃尔默Spectrum1 ATR-FT-IR仪器、珀金埃尔默Lambda-35 UV-Vis-NIR光谱仪、配备532 nm二极管泵浦Nd:

4. 实验流程与操作步骤：安瓿装入2H1N后真空密封，在炉中以0.3毫米/小时速度平移生长。生长完成后，晶体经切割、抛光并进行多项分析：38°C至500°C的TG-DTA测试，SXRD测定晶格参数，PXRD进行物相分析，NMR在丙酮-d6溶剂中测试，FTIR扫描范围450-4000 cm?1，UV-Vis-NIR覆盖200-1100 nm波长，z扫描采用开孔与闭孔模式，介电测量频率范围50 Hz至5 MHz。

5：实验流程与操作步骤：

5. 数据分析方法：采用XRD指标化软件处理数据，通过理论拟合获取z扫描参数（n2、β、χ3），光学与介电性能数据通过标准公式计算。