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利用循环、旋转和反转剪切干涉仪检测光学涡旋

DOI:10.1016/j.optlastec.2019.01.006 期刊:Optics & Laser Technology 出版年份:2019 更新时间:2025-09-22 18:05:08
摘要: 本文通过简单而有效的光学元件,利用普通与非共路剪切干涉仪实现了涡旋光束拓扑荷数的测定。研究采用循环、旋转及反转剪切干涉仪完成了不同装置下干涉图样的记录与分析。使用循环和旋转剪切干涉仪时,两种装置均产生具有两个反向取向叉形结构的干涉图样;而反转剪切干涉仪则获得单一叉形图样,并由此推导出数学近似公式。
作者: K.N. Gavril'eva,A. Mermoul,A.A. Sevryugin,E.V. Shubenkova,M. Touil,I.M. Tursunov,E.A. Efremova,V.Yu. Venediktov
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利用循环、旋转和反转剪切干涉仪测定光学涡旋光束的拓扑荷数。

剪切干涉测量法是确定光学涡旋光束拓扑荷数的有效方法。循环式和旋转式剪切干涉仪产生具有两个反向分叉的干涉图样,可通过m = N - 1确定荷数。反转剪切干涉仪产生单一分叉图样,推导出近似公式|m| = (N - 1)/2,便于更轻松地检测荷数符号和数值。该方法简单紧凑,受环境干扰影响较小,在光通信和奇点光学领域具有潜在应用价值。

该研究仅限于单色相干光源(氦氖激光);可能不直接适用于多色或部分非相干光束。干涉仪需要精确对准,且对装置变动敏感。反转干涉仪的数学近似是在特定假设(如光束强度相等)下推导的,这些假设在实际场景中未必成立。

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