1：实验设计与方法选择：

采用热注射溶液法合成超薄SnS?纳米片，随后通过原位还原沉积Pt纳米颗粒。利用光电化学测试、Mott-Schottky分析和PEC阻抗谱评估性能。

2：样品选择与数据来源：

SnS?纳米片由五水合四氯化锡和硫粉合成，Pt通过乙酰丙酮铂(II)沉积。样品表征技术包括XRD、TEM、SEM、XPS、FTIR、UV-Vis和PL光谱。

3：实验设备与材料清单：

化学品含SnCl?·5H?O、硫粉、THF、1,2-十六烷二醇、DCB、二苯醚、乙酰丙酮铂(II)、油胺、油酸、1-十八烯、甲苯、己烷、异丙醇、乙醇、Milli-Q水、NH?SCN、Nafion、Na?SO?。设备包括布鲁克D8 ADVANCE X射线衍射仪、蔡司LIBRA 120 TEM、FEI Tecnai F20 HRTEM、蔡司Auriga SEM、SPECS XPS系统、布鲁克FTIR光谱仪、珀金埃尔默LAMBDA 950 UV-Vis分光光度计、堀场JobinYvon Fluorolog-3荧光光谱仪、万通Autolab电化学工作站。

4：实验流程与操作步骤：

SnS?合成包括将SnCl?·5H?O溶于含ODE、OAc和OAm的THF，加热至140°C后升至220°C，注入S-OAm溶液反应1小时，冷却离心洗涤。SnS?-Pt合成涉及将苯醚与1,2-十六烷二醇、OAm、OAc加热至140°C，加入Pt前驱体和DCB中的SnS?，超声后于200°C注射反应10分钟，冷却洗涤。配体交换使用NH?SCN溶液。PEC测试采用三电极体系（Pt网对电极、Ag/AgCl参比电极、FTO工作电极、Na?SO?电解液、氙灯光源）。

5：数据分析方法：

XRD用于物相鉴定，TEM/SEM观察形貌，XPS分析成分，FTIR检测配体去除，UV-Vis测定吸收，PL分析复合，PEC测量电流密度，PEIS和Mott-Schottky分析阻抗及平带电位（使用ZView软件）。