研究目的
研究以(Mg,Ca)O作为等离子体放电装置?;げ闶庇敕诺绲缪瓜喙氐幕б蛩?,包括暴露环境的影响及退火工艺的恢复效果。
研究成果
(Mg,Ca)O保护层中Ca的碳化会导致放电电压升高,通过真空退火促进脱碳可缓解该现象。为在实际生产中实现等离子体放电器件低放电电压与高发光效率,提出采用"空气退火+真空退火"的联合退火工艺。
研究不足
该研究仅限于特定的面板规格和条件(例如,42英寸面板,100%氙气含量)。XPS分析可能受到样品处理过程中表面污染的影响。真空退火对脱碳有效,但对去除有机残留物无效,需结合空气退火进行处理。
1:实验设计与方法选择:
本研究采用等离子显示屏评估介质阻挡放电电压,运用X射线光电子能谱(XPS)进行化学态定量分析,测试不同气氛退火工艺的脱碳效果。
2:样品选择与数据来源:
制备42英寸全高清交流等离子显示屏,通过电子束蒸发沉积MgO和(Mg,Ca)O薄膜。样品置于不同气氛(N2、干燥空气、普通空气)并经历多种条件退火处理。
3:干燥空气、普通空气)并经历多种条件退火处理。
实验设备与材料清单:
3. 实验设备与材料清单:XPS系统(Ulvac Phi Quantera SXM)、电子束蒸发系统、指定尺寸与材料(如ITO电极、介质层、?;げ悖┑南允酒?,以及真空/气体气氛退火设备。
4:实验流程与操作规范:
?;げ阍?50°C供氧条件下沉积,显示屏采用氮气密封。XPS测量设置特定参数(单色Al Kα源、45°出射角、69 eV和140 eV通过能)。退火在350°C或500°C下于空气、N2、真空、N2:H2O、N2:CH4及N2:CO2气氛中进行。
5:真空、N
5. 数据分析方法:使用Ulvac Phi MultiPak软件分析XPS谱图(含Shirley背景扣除),基于284.8 eV的C 1s峰校正结合能,应用相对灵敏度因子进行强度修正,通过高斯拟合量化键合态及碳酸化比例。
独家科研数据包,助您复现前沿成果,加速创新突破
获取完整内容