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High-Efficiency p-Type Si Solar Cell Fabricated by Using Firing-Through Aluminum Paste on the Cell Back Side

DOI:10.3390/ma12203388 期刊:Materials 出版年份:2019 更新时间:2025-09-19 17:13:59
摘要: Firing-through paste used for rear-side metallization of p-type monocrystalline silicon passivated emitter and rear contact (PERC) solar cells was developed. The rear-side passivation Al2O3 layer and the SiNx layer can be effectively etched by the firing-through paste. Ohmic contact with a contact resistivity between 1 to 10 m?·cm2 was successfully fabricated. Aggressive reactive firing-through paste would introduce non-uniform etching and high-density recombination centers at the Si/paste interface. Good balance between low resistive contact formation and relatively high open-circuit voltage can be achieved by adjusting glass frit and metal powder content in the paste. Patterned dot back contacts formed by firing-through paste can further decrease recombination density at the Si/paste interface. A P-type solar cell with an area of 7.8 × 7.8 cm2 with a Voc of 653.4 mV and an efficiency of 19.61% was fabricated.
作者: Guang Wu,Yuan Liu,Genhua Zheng,Guangwei Wang,Deliang Wang,Mengxue Liu,Yi Zhang,Peng Zhu,Min Wang
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To develop a firing-through paste for rear-side metallization of p-type monocrystalline silicon PERC solar cells that can effectively etch the rear-side passivation Al2O3 layer and the SiNx layer, achieving ohmic contact with low contact resistivity and high open-circuit voltage.

Firing-through pastes with different etching capabilities were developed for rear-side metallization of p-type monocrystalline silicon PERC solar cells. Ohmic contact with a contact resistivity as low as 1 m?·cm2 was achieved. A p-type solar cell with an area of 7.8 × 7.8 cm2, a Voc of 0.6534 V, and an efficiency of 19.61% was fabricated, demonstrating the potential of firing-through paste for simplifying the solar cell fabrication process.

Non-uniform etching reactions between the paste and the Al2O3/SiNx layers can lead to high-density recombination centers at the Si/paste interface, affecting the open-circuit voltage. The Al depth and doping uniformity obtained by the firing-through technique need further improvement.

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