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透射电子显微镜中的同轴全息术用于辐射敏感物质单粒子的原子级分辨率成像
摘要: 本文首次证明,透射电子显微镜(TEM)中的同轴全息术能够在仅以1–2 e???2s?1电流密度照射样品的条件下,实现有机和无机材料辐射敏感纳米颗粒的研究,获得单纳米颗粒的高对比度全息图。这为真正的单颗粒原子级分辨率成像提供了强大方法,并为生物学与材料科学中软物质研究开辟了新视角。该方法不仅适用于特定类别的TEM样品(如均匀样品或专为特定TEM实验设计的样品),更能在研究形状、化学成分、晶体学及取向存在差异的样品时发挥优势——这类样品目前尚无法实现原子级分辨率观测。
关键词: 透射电子显微镜、辐射损伤、原子分辨率成像、纳米结构药物、有机材料、同轴全息术、软物质、单颗粒成像
更新于2025-09-23 15:19:57
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多高度相位恢复结合快速迭代收缩阈值算法处理同轴全息中复杂衍射场的相位微球体
摘要: 本工作描述了一种方法,该方法将恒定初始化、自由空间反向传播、强度传输方程(TIE)和多高度相位恢复与快速迭代收缩阈值算法(FISTA)相结合,从衍射场测量中预测相位微球的重建。我们通过适当的初始化和正则化来重建未知的相位微球(透明物体)。
关键词: 相位恢复、衍射、物体边界、相位微球、计算成像、同轴全息术
更新于2025-09-11 14:15:04