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一种电光侦察用分段平面成像探测器的改进方案及数值模拟
摘要: 分段平面光电探测成像技术是为实现成像系统小型化与轻量化而发展的一项前沿光电成像技术。通过计算机仿真算法模拟了集成光学干涉测量系统的成像过程,探究了系统结构参数对成像结果的影响,并提出基线匹配方法的优化方案。仿真结果表明:增加干涉仪臂数和基线长度可提升系统成像质量;所提出的基线匹配优化方法能提高系统低频采样率,从而改善成像质量。此外,仿真结果还给出了系统最佳成像距离,表明该系统最适用于遥感成像,同时测定了系统对相位噪声的容限。研究给出了波导制备精度的要求,对系统制造具有指导意义。
关键词: 光电探测、数值模拟、光子集成电路、基线优化方案、干涉成像
更新于2025-09-12 10:27:22