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[IEEE 2019欧洲激光与光电子学会议暨欧洲量子电子学会议(CLEO/Europe-EQEC)- 德国慕尼黑(2019年6月23日-2019年6月27日)] 2019年欧洲激光与光电子学会议暨欧洲量子电子学会议(CLEO/Europe-EQEC)- 光纤激光驱动的50毫瓦平均功率气体等离子体太赫兹产生技术
摘要: 首次评估了具有IGZO电荷存储层的非晶铟镓锌氧化物(a-IGZO)薄膜晶体管非易失性存储器件在多级单元存储应用中的性能。原始器件定义为初始状态(OS),经正栅极电压脉冲(如12V持续10ms)可切换至编程状态(PS),经负栅极电压脉冲(如-15V持续10ms)可切换至擦除状态(ES)。写入机制归因于正栅极偏压下电子从沟道向电荷存储层的福勒-诺德海姆隧穿效应,以及负栅极偏压下的反向隧穿效应。该器件展现出优异的电学可编程与擦除特性:经历100次编程/擦除循环后,OS与PS间仍保持2.4V存储窗口,OS与ES间亦维持2.66V存储窗口;在10^5秒保持时间内,相对于OS的存储窗口分别为PS的1.91V和ES的1.30V。
关键词: 非易失性存储器、薄膜晶体管、多层单元、铟镓锌氧化物
更新于2025-09-23 15:21:01