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利用微波自旋注入谱精确绘制二维自旋轨道耦合的拓扑能带图
摘要： 研究能带结构是探究新型材料基本特性的关键方法之一。我们在此报道了光学晶格中二维自旋轨道耦合的精确能带测绘。通过微波自旋注入谱技术，同步实现了能带结构与自旋极化分布的测定。通过观测狄拉克点处能隙闭合与重开现象，我们还揭示了该体系的能带拓扑特性。此外，晶格深度与拉曼耦合强度的标定精度达到10?3量级。该方法同样适用于探索更高维体系中的奇异拓扑相。
关键词： 拓扑能带、微波自旋注入谱学、自旋极化、拓扑相变、二维自旋轨道耦合
更新于2025-09-23 15:23:52