利用红外衰减全反射显微光谱技术探测双曲极化激元

摘要： 双曲极化激元模式在纳米光子学领域具有广泛应用前景，包括表面增强传感、亚衍射成像和可重构超表面等。本研究证明，采用标准光谱仪的衰减全反射（ATR）显微光谱技术可在Kretschmann-Raether构型中激发双曲极化激元。我们测量了天然双曲材料六方氮化硼中多种双曲模与介电模随不同同位素富集度及薄片厚度的变化规律，从而克服了基于纳米结构或散射式扫描近场光学显微镜测量方法的技术难题。该ATR方法最终使我们能系统比较不同制备技术获得的小尺度材料的光学特性。