光伏器件中CdTe晶粒的应变分布图

摘要： 多晶薄膜吸收层中晶粒内部及晶界（GBs）的应变会因缺陷浓度升高和能带波动而限制整体性能。但采用标准方法难以获取工作器件中的纳米级应变分布。X射线纳米衍射技术能以纳米分辨率评估应变或晶格间距，结合多模态扫描X射线显微镜框架下的其他技术，还可直接建立应变与材料/器件参数（如元素分布或局部性能）的关联。该技术被用于研究全工况光伏电池中CdTe晶粒的应变分布，发现(111)晶向晶格间距在晶粒核心区基本恒定，但在晶界处系统性减小。晶界区应变降低伴随总倾斜角增大，这些现象既符合较小原子非均匀掺入晶格的特性，也与相邻晶粒诱导的局部应力相关。