基于相位噪声分析的2微米波段单频光纤激光器线宽测量演示

摘要： 基于3×3耦合器相位噪声分析的线宽测量方法已应用于1550 nm波段。与常见的延迟自外差法相比，该方法采用短延迟线带来的低损耗是其显著优势之一。充分利用这一特性，该方法也可用于测量2 μm波段单频光纤激光器的线宽。然而迄今为止，尚未有该方法在2 μm波段的具体实验验证。本文提出并采用了一台高性能单频掺铥光纤激光器（TDFL）进行验证。该TDFL工作在1942.03 nm中心波长且具有高稳定性。通过仅使用50米光纤延迟线的相位噪声分析线宽测量系统，成功测得了所提TDFL的线宽。当测量时间为0.001秒时，线宽约为47 kHz。此外，该方法还同步研究了单频激光器的噪声特性。