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有机金属卤化物钙钛矿(CH<sub>3</sub>NH<sub>3</sub>PbI<sub>3</sub>)薄膜的形貌与光电及电学性能之间的关联 （注：原文中"MH<sub>3</sub>"疑似笔误，根据钙钛矿材料常识修正为"PbI<sub>3</sub>"。若需严格按原文直译，可作"(CH<sub>3</sub>NH<sub>3</sub>MH<sub>3</sub>)"，但此化学式不符合已知钙钛矿结构。）
摘要： 有机金属卤化物钙钛矿正成为光电子应用领域中一类极具前景的材料。晶体形貌对于提升有机-无机铅卤钙钛矿半导体在光电器件、电子器件及光伏器件中的性能至关重要。因此研究晶体形貌变化如何影响半导体行为具有重要意义。本研究评估了不同沉积方法与所得有机金属卤化物钙钛矿薄膜光电及电学特性之间的关系，采用单步溶液沉积法和两步溶液沉积法制备钙钛矿薄膜，通过改变浓度、退火温度和浸渍涂布时间来调控钙钛矿的结构与形貌。研究发现：随着浓度、退火温度和浸渍涂布时间的改变，所制薄膜呈现不同形貌；单步溶液沉积法制备样品的光学带隙能量分别为2.23 eV、2.13 eV和2.09 eV，两步溶液沉积法制备样品则为1.57 eV、1.55 eV和1.52 eV；方阻值随浓度、退火温度和浸渍涂布时间的增加而降低。光学带隙能量的减小与方阻的降低是高性能光伏器件的优异特性。
关键词： 钙钛矿、薄层电阻率、激活能、带隙、薄层电阻、光谱学
更新于2025-11-19 16:56:35
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采用四探针法研究并计算银薄膜的电学性能
摘要： 本研究采用热蒸发法在晶体取向为(100)的p型硅衬底上沉积了厚度分别为300、360和400纳米的银薄膜。通过四探针法和XRD分析对表面层进行测试，研究了包括方块电阻、电导率、电阻率等电学特性，并分析了形成的银相结构。XRD结果显示，在400纳米厚度时形成了具有(200)晶向的最佳面心立方(FCC)银结构，利用德拜-谢乐公式计算出相邻晶面间距为8.94纳米。四探针测试表明：随着厚度增加，方块电阻和电阻率降低而电导率升高。400纳米厚度的银层具有最高的电导率和最低的电阻值。
关键词： 面心立方晶格，厚度，薄层电阻，电导率
更新于2025-09-23 15:21:01