辐照石墨烯场效应晶体管中的低频噪声

摘要： 我们展示了对辐照单层石墨烯中低频噪声的定量分析。在本研究中，我们用90电子伏特的氩离子对背栅石墨烯晶体管进行反复辐照，并在每次辐照后测量其低频噪声和沟道电导率。结果表明，噪声幅度随空位缺陷密度的增加而单调递减。通过结合低频噪声测量与载流子输运研究，我们发现迁移率涨落模型可以解释这一现象，且空位缺陷密度、带电杂质密度以及载流子平均自由程共同决定了噪声幅度。