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oe1(光电查) - 科学论文

15 条数据
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  • [IEEE 2018 第七届维谢格拉德国家照明会议（Lumen V4）- 捷克特热比奇（2018.9.18-2018.9.20）] 2018第七届维谢格拉德国家照明会议（Lumen V4）- 现代移动显示器的色度特性

    摘要： 随着显示技术的发展，市场上出现了越来越多高分辨率的设备。要表征这些高分辨率显示设备，需要特殊的测量技术，部分原因在于它们大多是手持设备。基于国际显示计量委员会的建议，我们对一些现代移动显示器进行了表征，并研究了如何为这些设备选择合适的应用领域。我们还测试了这些设备是否适合医生用作诊断医疗设备。

    关键词： AMOLED（有源矩阵有机发光二极体）、色度学、移动显示、LED（发光二极管）、光度学

    更新于2025-09-23 15:21:21

  • [2019年IEEE国际计算、通信与工程会议（ICCCE）- 中国福建（2019.11.8-2019.11.10）] 2019年IEEE国际计算、通信与工程会议（ICCCE）- 大尺寸AMOLED显示器的实时阈值电压与迁移率补偿

    摘要： 本文提出了一种名为"线性充电检测(LCS)"的大尺寸AMOLED显示器阈值电压(Vth)和迁移率(μ)实时补偿新方法。该补偿技术可在数十至数百微秒内完成Vth和μ的检测，从而实现在一帧时间内完成全高清(FHD 1920×1080)AMOLED显示屏所有像素的检测。通过仿真分析发现，LCS补偿方法对Vth检测具有高精度，在Vth=-0.5V时误差仅为0.07V。经FHD AMOLED面板验证，该方法能显著改善图像残留和亮度均匀性问题。

    关键词： 线性电荷感应、AMOLED、补偿、TFT、阈值电压

    更新于2025-09-23 15:21:01

  • 低温多晶硅有源矩阵有机发光二极管制造过程中含银化合物的研究

    摘要： 在本研究中，我们系统调查了低温多晶硅有源矩阵有机发光二极管（LTPS-AMOLED）阳极湿法蚀刻过程中广泛生成的含银化合物。通过充分证据提出了该化合物的形成机制并予以验证。相关测试结果表明，与传统金属化合物不同，该化合物无法通过草酸水溶液去除。此外，在高温高湿环境（85°C，85%湿度）中，所报道的含银化合物会响应电场生长迁移，导致邻近集成电路焊盘短路，引发严重的产品可靠性失效。光谱测试结果显示，存在可靠性失效的产品表现为显示亮度降低和色坐标偏移。为改善含银化合物导致的可靠性失效，本文提出了五种潜在解决方案，其中大部分方案在本研究中得以实施。

    关键词： 可靠性失效，LTPS-AMOLED，含银化合物，对电场的响应

    更新于2025-09-23 15:21:01

  • 3.5：优化LTPS-AMOLED阵列设计以增强抗ESD风险能力

    摘要： 静电放电（ESD）是FPD（平板显示器）阵列制造中导致良率损失的重要原因。LTPS-TFT阵列工艺包含一系列吸盘夹持与传输步骤，其中部分步骤会产生摩擦电荷[1,2]。尽管已采用低阻抗材料的设备接触部件与玻璃基板，并实施了良好接地，ESD仍频繁发生。为探究ESD根本原因并降低其影响，需对LTPS-TFT阵列工艺开展系统研究。通过分析不同LTPS-AMOLED产品的ESD发生位置，我们发现以下三类与阵列设计相关的ESD成因：1. 相邻金属层重叠易引发ESD，例如EM的金属1线与Vdata的金属2跳线重叠、Vdata的金属1跳线与VDD的金属2跳线重叠、Vref的金属2线与Vdata的金属1跳线重叠；2. 对产品GIP（面板内栅极驱动器）区域ESD的研究表明，GIP扫描电路中电容C1/C2的间距（简称D1）及C1/C2面积差异与ESD明显相关——增大D1间距并减小C1/C2面积差异可提升产品抗ESD风险能力；3. CT（单元测试）区域ESD研究表明，CT ESD与IC焊盘（包括COF焊盘和IC输出焊盘）强相关，当IC焊盘直接连接CT电路时极易发生ESD。通过优化阵列设计可获得优异抗ESD风险的产品。

    关键词： 金属线叠加、CT电路、GIP电路、ESD、阵列设计、LTPS-AMOLED

    更新于2025-09-19 17:13:59

  • 17.4: <i>特邀论文：</i> 一种用于AMOLED源极驱动器的新型补偿电路

    摘要： 我们提出了一种新的补偿电路，用于解决TFT特性不均匀和OLED器件退化问题。该补偿电路包含感测处理单元和发射电流采样电路，采用数字感测处理单元的通道复用技术，有效减小了补偿电路的面积。

    关键词： AMOLED、外部补偿、多路复用通道、源极驱动器

    更新于2025-09-19 17:13:59

  • 18.3: <i>特邀论文：</i> 7.56英寸可折叠AMOLED及相关折叠技术研究

    摘要： 介绍了一款可折叠的7.56英寸显示屏。根据该设备的测试结果，讨论了可能影响可折叠显示屏进入市场的几个关键因素，如折叠性能、铅笔硬度、电阻和变形等。

    关键词： 外折式、可折叠显示屏、AMOLED

    更新于2025-09-19 17:13:59

  • 27.2: <i>特邀论文：</i> 面向AMOLED显示器的高分辨率FMM工艺

    摘要： 精细金属掩模（FMM）是实现智能手机和虚拟现实（VR）高分辨率AMOLED显示屏的最大障碍之一。本文讨论了用于高分辨率FMM的各种材料和加工技术。

    关键词： 因瓦合金、化学蚀刻、虚拟现实（VR）、电铸、激光图案化、精细金属掩模（FMM）、超高清（UHD）、有源矩阵有机发光二极管（AMOLED）

    更新于2025-09-19 17:13:59

  • 基于表面等离子体共振的银纳米线辅助CSMFC光纤折射率传感器

    摘要： 在本信中，我们提出了一种针对有源矩阵有机发光二极管（OLED）显示器数字驱动方案中OLED退化的补偿方法。作为首次提出的该方法采用改进的拉伸指数衰减（SED）模型来表征OLED退化并补偿相应的亮度下降，从而延长OLED面板的使用寿命。该OLED面板采用低温多晶硅薄膜晶体管制造，并通过测量验证改进的SED模型及所提补偿方法。测量结果显示：在初始亮度350 cd/m2下运行40小时后，红、绿、蓝OLED在采用与未采用本方法时的亮度衰减分别为0.3%与6%、4%与17.8%、7.4%与30.4%。相应地，与传统方法相比，本补偿方法使红、绿、蓝OLED面板的使用寿命分别延长至72.5倍、15.5倍和20.75倍。

    关键词： OLED退化、AMOLED、补偿、AMOLED寿命延长、拉伸指数衰减模型、数字驱动

    更新于2025-09-19 17:13:59

  • 1：TFT技术应用于AMOLED显示的挑战

    摘要： 有源矩阵有机发光二极管（AMOLED）已广泛应用于智能手机、汽车仪表盘、智能可穿戴设备、VR/AR等中小尺寸及大尺寸显示领域。从量产角度看，AMOLED仍面临薄膜晶体管（TFT）背板需同时满足严苛且有时相互冲突的性能要求这一挑战?；诙訟MOLED显示技术发展趋势的梳理，本文系统分析了TFT性能挑战及其与产品性能问题（如寿命、云纹和残像）的关联。研究发现：减小饱和区Ids-Vds斜率有助于提升AMOLED寿命；在栅极绝缘层（GI）沉积前采用氧化性等离子体处理、进行GI退火工艺以及采用双层（SiO2/SiN）GI结构，均能有效降低氧化物层及多晶硅/GI界面的陷阱密度，从而改善短期残像问题。

    关键词： AMOLED、图像残留、TFT、寿命、mura（显示不均）

    更新于2025-09-19 17:13:59

  • [IEEE 2019国际能源与可持续发展会议(IESC) - 美国纽约州法明代尔(2019.10.17-2019.10.18)] 2019国际能源与可持续发展会议(IESC) - 微电网中光伏能源实施方法论

    摘要： 本文提出了一种用于有源矩阵有机发光二极管（AMOLED）显示的新型高精度电压编程像素电路。该像素电路由三个薄膜晶体管（TFT）和一个存储电容组成，在相同像素尺寸下分别采用非晶硅（a-Si）和铟镓锌氧化物（a-IGZO）TFT技术实现以进行公平对比?；赼-Si的设计仿真结果表明：在90秒编程时间内，该像素电路能几乎无误差地补偿驱动TFT的3V阈值电压（Vth）漂移。相比之下，尽管基于a-IGZO的像素电路已证实具有三倍更高的速度，但其电流误差较大（约8%）。

    关键词： 有源矩阵有机发光二极管（AMOLED）、补偿、氧化物薄膜晶体管（TFT）、非晶硅（a-Si）

    更新于2025-09-19 17:13:59