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纳米电子学与材料发展 || 外延Cu3Ge薄膜:制备、结构与性能
摘要: 本文对外延生长Cu3Ge薄膜的制备及其电学特性进行了表征。通过调节沉积参数,提高了原位生长Cu3Ge薄膜的结晶度,并在其中形成了孪晶结构。测得外延Cu3Ge薄膜的平均功函数约为4.47±0.02 eV,使其成为互补金属氧化物半导体(CMOS)器件中理想的中带隙栅极金属。本研究因此展示了一种具有应用前景的外延Cu3Ge薄膜。
关键词: 蓝宝石、半导体金属化、Cu3Ge薄膜、脉冲激光沉积、孪晶
更新于2025-09-09 09:28:46