针尖诱导应变导致的V?O?薄膜金属-绝缘体转变

摘要： 我们通过接触式原子力显微镜在亚微米区域施加局部应力，证明了c轴取向的三氧化二钒（V2O3）薄膜从强关联金属态到莫特绝缘态的压力诱导转变。为实现亚吉帕斯卡量级的压力范围，采用聚焦离子束（FIB）对商用探针进行铂化学气相沉积，制备了半径达335纳米的大曲率探针。该FIB改性探针在低工作压力（0.25-0.4吉帕）下能形成良好电接触，从而通过局部电流-电压特性研究明确证实了脉冲激光沉积V2O3薄膜中可逆的金属-绝缘体转变。有限元分析证实，该探针压力导致的c/a晶格比减小可解释薄膜中电子态密度所观测到的相变现象。