修车大队一品楼qm论坛51一品茶楼论坛,栖凤楼品茶全国楼凤app软件 ,栖凤阁全国论坛入口,广州百花丛bhc论坛杭州百花坊妃子阁

oe1(光电查) - 科学论文

48 条数据
?? 中文（中国） ▾

  • 介孔金属氧化物中钙钛矿孔填充的结构与定量研究

    摘要： 近年来，混合有机-无机钙钛矿光吸收材料因其优异的光电特性可实现高光电转换效率，在太阳能电池领域备受关注。短短几年间，钙钛矿基太阳能电池的效率已从3.8%大幅提升至20%以上，使其成为极具前景的低成本光伏替代方案。钙钛矿在介孔金属氧化物中的沉积是影响电池性能的关键因素，实现高效介孔钙钛矿太阳能电池制备的重要前提是确保对多孔金属氧化物的完全覆盖与孔隙填充。本研究通过顺序两步沉积法，对CH3NH3PbI3在两种不同介孔金属氧化物（TiO2和Al2O3）中的孔隙填充进行了结构与定量分析。为排除非理想结果干扰，所研究的钙钛矿太阳能电池未采用空穴传输层。通过透射电子显微镜（TEM）结合能量色散X射线光谱（EDS）对聚焦离子束（FIB）切片进行横截面表征，观察到CH3NH3PbI3钙钛矿完全填充至金属氧化物孔隙的X深度，证实孔隙内存在铅和碘元素。本研究对介孔Al2O3钙钛矿太阳能电池尤为重要，因为该结构正常运作依赖于孔隙填充。这些结构与定量证据确证了介孔钙钛矿太阳能电池中孔隙的完全填充，为其高光电转换效率提供了科学依据。

    关键词： STEM-TEM，介孔，钙钛矿，孔填充，XRD

    更新于2025-09-23 15:21:01

  • 化学浴沉积法制备硫化锌（ZnS）薄膜的结构、表面形貌及光学性能研究

    摘要： 硫化锌（ZnS）薄膜采用化学浴沉积法制备。通过X射线衍射（XRD）分析其晶体结构与晶粒尺寸，利用扫描电子显微镜研究ZnS薄膜的颗粒尺寸与形貌。采用紫外-可见-近红外吸收光谱进行光学性能测试，计算得出薄膜带隙值为3.45 eV。在不同温度条件下对ZnS薄膜进行了多频率介电性能研究。

    关键词： 扫描电子显微镜（SEM）、硫化锌（ZnS）薄膜、介电性能研究、X射线衍射（XRD）

    更新于2025-09-23 15:19:57

  • 激光冲击强化对6061-T6铝合金力学性能和微观结构的影响

    摘要： 对6061-T6铝合金进行了激光冲击强化（LSP）处理，并采用残余应力分析、表面粗糙度、维氏显微硬度、拉伸试验、X射线衍射（XRD）分析、透射电子显微镜（TEM）和电子背散射衍射（EBSD）等多种表征技术，细致研究了LSP后参数对力学性能和微观结构演变的影响。处理后获得了约1500微米深度的加工硬化层，截面显微硬度显著提高达33.04%。激光冲击试样中诱导产生了最大达-273 MPa的有益压应力，其整体效应集中在沿有效深度区域约100微米深度范围内。通过XRD图谱分析观察到LSP后出现第二相Mg5Si6（β?）析出物，并伴随峰宽化和向更高2θ角度的峰位偏移，这与显微硬度测试结果相互印证。LSP试样中高角度晶界（HAGBs）比例增加，其影响在残余应力分布中得以体现。Mg5Si6（β?）析出物与LSP过程中剧烈塑性变形导致的密集位错密度共同被认为是改善LSP试样力学性能的关键因素。应变硬化、第二相析出物、峰宽化、位错密度增加以及HAGBs比例提升的综合作用，在LSP试样的力学性能和微观结构特征中均得到体现。研究结果经详细讨论并显示出强烈的相互关联性。

    关键词： 电子背散射衍射（EBSD）、铝合金、cosα法、透射电子显微镜（TEM）、X射线衍射（XRD）、激光冲击强化

    更新于2025-09-23 15:19:57

  • Sm3+:CaLa4Si3O13磷光体的结构与发光研究：一种用于白光LED的橙色发射组分

    摘要： 借助传统溶胶-凝胶法制备了六种不同浓度（0.005≤x≤0.09）的CaLa4-xSi3O13:xSm3+荧光粉。通过X射线衍射分析了所有样品的晶体结构与发光特性?；诼瓷涔馄准扑懔薈aLa3.91Si3O13:0.09Sm3+荧光粉的直接和间接光学带隙。根据测量的激发和发射光谱发现，这些样品能被近紫外或蓝光LED芯片有效激发，在403 nm（6H5/2→4F7/2）激发下产生598 nm（4G5/2→6H7/2）的强橙色发射。根据对应发射光谱计算了CaLa4Si3O13:0.005和0.09 Sm3+荧光粉的CIE色坐标(x,y)。在365 nm紫外灯照射下，CaLa4Si3O13:0.09 Sm3+样品呈现明亮橙色发光。本研究表明，该荧光粉在蓝光LED芯片激发下具有提升YAG:Ce3+荧光粉在白光LED中显色指数(CRI)的潜力。

    关键词： CaLa4Si3O13，XRD，Sm3+离子，CIE，光致发光，溶胶-凝胶

    更新于2025-09-23 15:19:57

  • 取代金属(II)八甲氧基苯基亚氨基酞菁颜料的合成与表征

    摘要： 通过将八氨基酞菁与邻茴香醛缩合，合成了对称取代的金属(II)-八甲氧基苯基亚胺酞菁，并对其光谱和磁化率进行了研究。这些深绿色的八氨基酞菁衍生物通过电子光谱、红外光谱、元素分析、磁化率、粉末X射线衍射和热重分析(TGA)等手段进行了表征，以验证其结构完整性，检查颜料的纯度和晶体特性。磁矩随磁场强度从2.20到4.01 kg的变化表明存在分子间协同效应。

    关键词： TGA（热重分析）、磁化率、红外光谱（IR）、电子光谱、X射线衍射（XRD）、八甲氧基亚氨基酞菁

    更新于2025-09-23 14:05:05

  • 使用乙腈溶液中考马斯亮蓝制备的二氧化钛基染料敏化太阳能电池的性能

    摘要： 基于合成染料敏化剂的太阳能电池成功制备，并对其光伏性能进行了测试。采用溶胶-凝胶法合成了二氧化钛（TiO2）纳米颗粒，通过XRD和HRTEM分析测定其结构与形貌特性。XRD测定了TiO2颗粒的晶粒尺寸，并经TEM验证。将溶解于乙腈的合成考马斯亮蓝（CBB）作为染料用于纳米晶TiO2太阳能电池。采用简单的刮涂法在FTO玻璃基底上制备TiO2薄膜，通过紫外-可见吸收光谱分析对染料进行表征。CBB染料的强吸收性增强了染料敏化太阳能电池的性能。结果表明，以TiO2为光阳极、CBB为敏化剂时展现出良好的转换效率。

    关键词： CBB、DSSC、TEM、XRD、二氧化钛

    更新于2025-09-19 17:13:59

  • 光伏器件中CdTe晶粒的应变分布图

    摘要： 多晶薄膜吸收层中晶粒内部及晶界（GBs）的应变会因缺陷浓度升高和能带波动而限制整体性能。但采用标准方法难以获取工作器件中的纳米级应变分布。X射线纳米衍射技术能以纳米分辨率评估应变或晶格间距，结合多模态扫描X射线显微镜框架下的其他技术，还可直接建立应变与材料/器件参数（如元素分布或局部性能）的关联。该技术被用于研究全工况光伏电池中CdTe晶粒的应变分布，发现(111)晶向晶格间距在晶粒核心区基本恒定，但在晶界处系统性减小。晶界区应变降低伴随总倾斜角增大，这些现象既符合较小原子非均匀掺入晶格的特性，也与相邻晶粒诱导的局部应力相关。

    关键词： X射线显微镜、纳米衍射、X射线衍射（XRD）、太阳能电池、多模态、碲化镉（CdTe）、X射线、应变、X射线荧光（XRF）、光伏、X射线束感应电流（XBIC）

    更新于2025-09-19 17:13:59

  • 采用X射线衍射法测定选择性激光熔化铝合金残余应力的策略

    摘要： 选择性激光熔化（SLM）工艺会在样品中产生较大且各向异性的残余应力。准确测量SLM制备样品的残余应力对于理解其成型过程中的残余应力累积机制至关重要，但现有文献报道的残余应力数值存在显著波动?；诙訶射线衍射（XRD）测量表面粗糙度影响的研究，我们提出结合机械抛光与化学腐蚀预处理的XRD检测流程。结果表明：未经处理的原始SLM样品因尖峰表面存在应力松弛现象，其XRD测得的残余应力值明显低于经表面精加工的样品。针对SLM制备的AlSi10Mg样品，我们系统研究了残余应力的表面分布特征及扫描策略的影响，并观测了样品与构建平台界面的微观组织形貌及其与残余应力分布的关联性。该检测流程能实现SLM样品残余应力的精确测量，从而深入理解其成型过程中的应力累积机制。

    关键词： X射线衍射（XRD）、残余应力、AlSi10Mg、选择性激光熔化、表面粗糙度

    更新于2025-09-19 17:13:59

  • 二元过渡金属硫化物作为染料敏化太阳能电池中经济实惠的无铂对电极

    摘要： 基于二元硫化物CuxCoySz的无铂对电极(CE)通过一步溶剂热合成法制备。采用SEM、XRD和拉曼光谱对所得CE进行表征。EDX分析显示Cu、Co和S分布均匀。SEM图像揭示了二元金属硫化物产物在FTO玻璃上不同覆盖程度。使用所制CE与N719染料构建染料敏化太阳能电池(DSSCs)，并与铂参比电池对比评估其光伏和电化学性能。CuxCoySz-3 CE的光伏效率较参比电池提升11%。

    关键词： Cu-Co-S复合物，扫描电子显微镜（SEM），X射线衍射（XRD），溶剂热合成，拉曼光谱

    更新于2025-09-16 10:30:52

  • 掺杂浓度对电化学沉积法制备的Yb-ZrSe?薄膜电子带隙能的影响及其光伏应用

    摘要： 本研究采用电化学沉积法，探究掺杂浓度对多晶掺镱硒化锆(Yb-ZrSe)材料光电应用潜力的影响。阳离子前驱体为0.01 mol ZrOCl2·8H2O水溶液，阴离子前驱体通过将0.15 mol硒溶解于5 ml盐酸(HCl)制得，并添加0.05 mol Yb(NO3)3·5H2O作为掺杂剂。采用UV-1800可见分光光度计、布鲁克D8 Advance X射线衍射仪(Cu Kα射线λ=1.54056 ?，扫描范围2θ=10°–90°)及扫描电子显微镜对薄膜进行表征。FTO基底沉积薄膜的X射线衍射(XRD)分析显示，(111)、(200)、(200)和(210)晶面分别在27.00°、38.01°、46.02°和66.02°出现衍射峰，证实薄膜具有多晶结构。(SEM)观察表明晶粒在基底表面均匀分布。测得光学带隙能量为1.57 eV。

    关键词： XRD、光学性能、掺镱硒化锆、电化学沉积、扫描电子显微镜

    更新于2025-09-16 10:30:52