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参照光谱椭圆仪纳米薄膜-rse 光学计量

参照光谱椭圆仪纳米薄膜-rse

分类: 光学计量

厂家: Halcyonics GmbH

产地: 德国

更新时间: 2024-04-19T06:40:59.000Z

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概述

Nanofilm_RSE是一种特殊类型的椭偏仪,它将样品与参考进行比较。以这种方式,可以测量样品和参考之间的椭圆偏振差。由于参考的取向,在测量过程中不需要移动或调制任何光学元件,并且可以在单次测量中获得完整的高分辨率光谱。通过这种方式,每秒可获得100个光谱。同步X-Y平台能够在几分钟内采集大视场薄膜厚度图。参考光谱椭偏仪将椭偏仪的高灵敏度和层厚区域(0.1nm-10μm)与市场上可用的较高速度相结合。与激光椭偏仪相比,它包括450和900nm之间的光谱信息。这在处理层的一个以上参数是可变的情况下是重要的,例如厚度和光密度。

参数

  • 光谱范围 / Spectral Range : 450 - 900 nm
  • 光谱分辨率 / Spectral Resolution : 1000nm
  • 入射角 / Angle Of Incidence : 1 - 1 deg

图片集

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厂家介绍

自1991年以来,Accurion已成为成像椭偏仪和布鲁斯特角显微镜的做的较好的。我们的主要专长是将光学表面分析与显微镜技术相结合。这使得能够在微观特征(如MEMS、微流体、生物阵列、OLED像素等)上对表面和薄膜进行非接触表征。 我们的系统已用于石墨烯和2D材料、喷墨打印、集成光子学和波导、脂质层等新应用,并且其数量正在增加。 系统的??榛痛罅扛郊市碛糜诳蒲а芯恳约吧叩募缮璞?。

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