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在电子制造与研发领域，如何精准分析材料的分子结构并检测微小缺陷一直是行业痛点。拉曼光谱仪的作用正是解决这一难题的核心技术——它通过激光与物质分子振动能级的相互作用，提供非接触、无损的化学成分"指纹图谱"。从半导体晶圆的质量控制到新型光纤元件的材质验证，该技术已成为现代电子工业不可或缺的分析工具。本文将深入解析拉曼光谱仪在电子电工行业的具体应用场景，并分享提升
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概述
参数
- 过滤器类型 / Filter Type : Bandpass Filter
- 半高宽（FWHM） / Bandwidth (FWHM) : 70 nm
- FWHM公差 / FWHM Tolerance : ± 8 nm
- 阻挡波长 / Blocking Wavelength : 200 to 1150 nm
- RoHS / RoHs : Yes
- 过滤器形状 / Filter Shape : Round
- 基底/材料 / Substrate/Material : Schott Borofloat, Soda Lime
- 滤波器直径 / Filter Diameter : 25.4 mm (1 Inch)
- 表面质量 / Surface Quality : 80-50 scratch-dig
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掺杂Yb3+的氧氟磷酸盐玻璃及玻璃陶瓷的光学、结构和发光性能
成核与生长 掺Yb3?磷酸盐玻璃 拉曼与红外光谱 Yb3?发光特性 热处理
研究了P2O5-SrO-Na2O系统中玻璃添加Al2O3和Y2O3对结构、Yb3+发光及晶化的影响。红外和拉曼光谱证实，虽然Al2O3和Y2O3的添加使磷酸盐网络连接更紧密并提高了玻璃转变温度，但对Yb3+的占位点影响不大。Al2O3和Y2O3的添加略微降低了玻璃的晶化速率。热处理后发生表面晶化，XRD图谱中出现尖锐峰证实了晶化现象。无论玻璃成分如何，热处理后玻璃中都会析出多种不同晶相。Na1O7P2Yb1晶相的析出不仅延长了Yb3+激发态2F5/2的寿命，还增宽了中心波长1μm处Yb3+发射带的带宽。
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材料科学与工程实验方案
1. 实验设计与方法选择：本研究采用标准熔融法制备玻璃，通过差热分析（DTA）、紫外-可见-近红外光谱（UV-Vis-NIR）、红外与拉曼光谱、X射线衍射（XRD）及发光测量等热学、结构和光学分析手段研究其性能与晶化行为。 2. 样品选择与数据来源：制备了组成为(95-x)(0.50P?O?-0.40SrO-0.10Na?O) – 5Yb?O? – x(1.5Y?O?-2.5Al?O?)（x=0, 0.25, 0.5, 1 mol%）的玻璃，原料包括NaPO?、Yb?O?、Y?O?、Al?O?和Sr(PO?)?。 3. 实验设备与材料清单：设备包括扫描电子显微镜（卡尔·蔡司Crossbeam 540）、能谱探测器（牛津仪器X-MaxN 80）、差热分析仪（耐驰JUPITER F1）、紫外-可见-近红外分光光度计（岛津UV-360 Plus）、傅里叶变换红外光谱仪（珀金埃尔默Spectrum one）、拉曼显微镜（赛默飞世尔DXR 2xi）、XRD分析仪、光谱仪（Jobin Yvon iHR320）、探测器（滨松P4631-02、R928P）、激光二极管（BMU8-915-01-R）、示波器（泰克TDS350）及带滤光片的探测器（Thorlabs PDA10CS配FB980-10）。材料包括铂坩埚、用于密度测量的乙醇以及扫描电镜碳涂层。 4. 实验流程与操作步骤：批次样品在铂坩埚中于1300-1525°C熔融30分钟，淬火后于400°C退火6小时。密度采用阿基米德法测定。差热分析升温速率为10°C/分钟。吸收光谱、红外光谱、拉曼光谱、XRD、发射光谱及寿命测量均在特定激发条件和环境下进行。通过Tg+20°C下热处理17小时及Tp-40°C下最多3小时的热处理诱导晶化。 5. 数据分析方法：吸收截面通过公式σabs(λ) = 2.303/NL log(I?/I)计算。辐射寿命通过τ_rad = 3λ? / (32πc n2 ∫ σabs(λ)dλ)计算。XRD图谱与ICDD标准卡片对比。发射光谱与寿命数据用于分析成分及热处理导致的差异。
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Thorlabs致力于以快速有效的服务，为客户供应高品质的光电产品及附属产品。索雷博, 光学平台, 光学元件, 位移台, 光纤跳线, 激光器, 二极管驱动, 宽谱光源, 光电探测, 光束分析, OCT成像, 成像系统, 压电陶瓷, 光电实验室
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