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在电子制造与研发领域，如何精准分析材料的分子结构并检测微小缺陷一直是行业痛点。拉曼光谱仪的作用正是解决这一难题的核心技术——它通过激光与物质分子振动能级的相互作用，提供非接触、无损的化学成分"指纹图谱"。从半导体晶圆的质量控制到新型光纤元件的材质验证，该技术已成为现代电子工业不可或缺的分析工具。本文将深入解析拉曼光谱仪在电子电工行业的具体应用场景，并分享提升
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概述
参数
- 透镜形状 / Lens Shape : Aspherical Lens
- 焦距 / Focal Length : 20.1 mm
- 焦距公差 / Focal Length Tolerance : ± 0.08%
- 中心厚度 / Center Thickness : 12 mm
- 直径 / Diameter : 25 mm
- 基底/材料 / Substrate/Material : B270
- 表面质量 / Surface Quality : 80-50 Scratch-Dig
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AI 智能分析
SCI论文引用分析
该产品已被1篇SCI论文引用
基于平台30万篇光学领域SCI论文分析
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微激光诱导击穿光谱技术对单颗粒的高通量分析
单颗粒 激光诱导击穿光谱 高通量
对颗粒物进行多元素分析对于识别其排放源具有重要价值。然而传统单颗粒分析技术通常需要耗时的样品制备流程。本研究报道了一种结合明场显微镜与激光诱导击穿光谱（LIBS）的系统，可实现对单颗粒的快速多元素分析。该系统通过采用超薄聚乙烯薄膜固定颗粒实现连续光谱采集，从而显著提升检测通量。这种薄膜成分简单，不会干扰颗粒的LIBS光谱；同时其极小厚度能在激光烧蚀过程中快速汽化，避免基底对颗粒等离子体发射信号的猝灭效应。通过研究颗粒成分异质性及区分化学性质极其相似的粉尘颗粒，验证了该系统的性能，表明其有望成为环境风险评估的有效工具。
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AI分析生成
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精密仪器实验方案
1. 实验设计与方法选择：该系统结合明场显微镜进行颗粒识别和激光诱导击穿光谱（LIBS）技术实现多元素定量分析。将颗粒固定在超薄聚乙烯薄膜中以避免光谱干扰和等离子体发射猝灭。 2. 样品选择与数据来源：使用粒径3至50微米的硫酸铜颗粒、细沙和磨碎的煤渣样品。 3. 实验设备与材料清单：自制显微镜（配LED手电筒）、用于LIBS的Nd:YAG激光器、固定颗粒的聚乙烯薄膜，以及用于光谱记录的光谱仪（LIBS2500Plus，海洋光学公司）。 4. 实验流程与操作步骤：将颗粒嵌入聚乙烯薄膜后通过明场显微镜识别，再采用聚焦激光进行LIBS分析，采集并解析等离子体发射光谱。 5. 数据分析方法：采用单变量与多变量分析（主成分分析PCA和支持向量机SVM）进行颗粒鉴别。
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厂家介绍
Thorlabs致力于以快速有效的服务，为客户供应高品质的光电产品及附属产品。索雷博, 光学平台, 光学元件, 位移台, 光纤跳线, 激光器, 二极管驱动, 宽谱光源, 光电探测, 光束分析, OCT成像, 成像系统, 压电陶瓷, 光电实验室
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名称
分类
制造商
参数
描述
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激光二极管专用光学透镜
光学透镜
Fisba
有效焦距: 200–1700μm 材质: 高折射率玻璃，n>1.8 覆盖波长范围: 430–1600nm
Fast Axis Collimator Lenses (FACs) 是激光二极管的关键组件，确保其在生产扩展中不会成为限制因素。
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