在电子制造与研发领域,如何精准分析材料的分子结构并检测微小缺陷一直是行业痛点。拉曼光谱仪的作用正是解决这一难题的核心技术——它通过激光与物质分子振动能级的相互作用,提供非接触、无损的化学成分"指纹图谱"。从半导体晶圆的质量控制到新型光纤元件的材质验证,该技术已成为现代电子工业不可或缺的分析工具。本文将深入解析拉曼光谱仪在电子电工行业的具体应用场景,并分享提升
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概述
参数
- 棱镜类型 / Prism Type : Wollaston Prism
- 基底/材料 / Substrate/Material : a-BBOd
- 镀膜波长 / Coating Wavelength : 190 to 3500 nm
- 表面质量 / Surface Quality : 20-10 scratch-dig
- RoHS / RoHs : Yes
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振幅对比度下的高光谱太赫兹断层扫描
太赫兹 时域光谱 高光谱成像 瑞利粗糙度 硬场断层扫描
采用0.3-2.5太赫兹频段的时间分辨光谱系统,展示了基于振幅对比度的高光谱太赫兹断层成像技术。通过傅里叶变换信号数据,利用标准滤波反投影算法重建测试物体在多个频率下的横截面图像?;谠?00个相邻光谱点重建的完整高光谱图像集,可追溯比尔-朗伯体积衰减、菲涅尔反射损耗及瑞利粗糙散射损耗的综合贡献,与实验结果整体吻合良好。对于折射率约1.02、衰减系数<1毫米?1的泡沫塑料(聚苯乙烯)测试物体,其最佳成像质量出现在0.8-2.0太赫兹频段,具体取决于材料孔隙率。
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光电信息科学与工程实验方案
1. 实验设计与方法选择:采用太赫兹时域光谱系统进行0.3-2.5太赫兹范围的高光谱成像。图像重建使用标准滤波反投影算法。 2. 样本选择与数据来源:扫描不同孔隙率的聚苯乙烯泡沫测试对象。通过移动物体穿过太赫兹波束腰并旋转以获取不同角度的投影来采集数据。 3. 实验设备与材料清单:包括钛宝石激光器、砷化镓光电导天线、碲锌镉检测晶体,以及四分之一波片和沃拉斯顿棱镜等光学元件。 4. 实验流程与操作步骤:以1毫米步长横向扫描物体,在0°至180°范围内以25个角度采集投影。重建区域为65毫米×65毫米。 5. 数据分析方法:利用傅里叶变换信号数据进行重建。分析体积衰减、反射损耗和表面粗糙度的综合影响。
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电话
单位名称
用途