在工业自动化和精密测量领域，激光位移传感器已成为不可或缺的电工工具。无论是检测生产线上的微小偏差，还是监控配电系统中设备的振动幅度，其高精度和非接触式测量的优势显著提升了效率与安全性。然而，面对市场上琳琅满目的型号（如基于激光二极管或光纤元件的产品），许多工程师在选型和应用中仍存在困惑。本文将深入解析激光位移传感器的工作原理、核心参数及典型场景，助您全面掌握
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LDA512P25X-1.7-T1
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光谱测量 半导体检测 近红外传感器 线性图像传感器 短波红外成像
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概述
LDA512P25X-1.7-T1 近红外线线性图像传感器，具备512 x 1像素，广泛应用于短波红外成像、半导体检测等领域。
参数
- 传感技术 / Sensor Technology : Planar InGaAs PIN
- 光谱范围 / Spectral Range : 0.9 - 1.7 μm
- 实际像素阵列 / Actual Pixel Array : 512 x 1
- 像素间距 / Pixel Pitch : 25 μm
- 量子效率 / Quantum Efficiency : ≥ 70 %
- 填充因子 / Fill Factor : ≤ 5 %
- 响应非均匀性 / Response Nonuniformity : ≤ 5 %
- 响应非线性 / Response Nonlinearity : ≤ 2 %
- 输出摆幅 / Output Swing : ≥ 2.0 V
- 最小集成周期 / Minimum Integration Period : 5 μs
- 最大像素速率 / Maximum Pixel Rate : 22 MHz
- 像素可用性百分比 / Pixel Operability : ≥ 99 %
应用
1. 短波红外成像 2. 半导体检测/过程监控 3. 分类/回收 4. 近红外光谱测量
特征
1. 512 x 1 像素 2. 嵌入式热电冷却器 3. 内置温度传感器 4. 快照 ITR/IWR 5. 单输出，像素速率高达 22 MHz
详述
1. 512 x 1 像素 2. 嵌入式热电冷却器 3. 内置温度传感器 4. 快照 ITR/IWR 5. 单输出，像素速率高达 22 MHz
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