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HASO SWIR LIFT 160 图像传感器

HASO SWIR LIFT 160

分类： 图像传感器

厂家： Axiom Optics

产地： 美国

型号： HASO SWIR LIFT 160

更新时间： 2025-01-03T06:37:51.000Z

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标签：

高分辨率 激光诊断 光学计量 SWIR技术 波前传感器

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概述

HASO SWIR LIFT 160是一款超高分辨率的波前传感器，专为最苛刻的SWIR应用而设计，能够在光学计量、显微镜和激光诊断等领域中成功应用。

参数

  • 孔径尺寸 / Aperture Dimension : 9.3 x 7.4 mm2
  • 相位采样 / Phase Sampling : 160 x 128
  • 最大采集频率 / Maximum Acquisition Frequency : 150 Hz (USB 3.0)或49 Hz (GigE)
  • 校准波长范围 / Calibrated Wavelength Range : 1.05 - 1.70 μm
  • 最小功率 / Minimum Power : 1 pW
  • 外部触发频率 / External Trigger : TTL signal
  • 操作系统 / Operating System : Windows 10
  • 绝对波前测量精度 / Absolute Wavefront Measurement Accuracy : λ/100 RMS
  • 空间采样 / Spatial Sampling : 58 μm
  • 倾斜动态范围 / Tilt Dynamic Range : > ± 3°
  • 焦距动态范围 / Focus Dynamic Range : ± 0.040 m to ± ∞
  • USB版本重量 / Weight For USB Version : 250 g
  • 动态范围(λ PtV) / Dynamic Range (λ PtV) : 1000
  • 在λ = 1550 nm时的动态范围 / Dynamic Range At λ = 1550 Nm : 10

应用

1. 光学制造计量 2. 复杂光学特性表征 3. 中频镜面表面特性表征 4. 光学质量控制 5. LIDAR、自由空间通信、汽车、航空航天及国防应用 6. 预测光学系统的聚焦能力或成像质量 7. 驱动波前校正器以纠正系统像差 8. 定量温度和重力对系统性能的影响

特征

1. 直接波前采集高发散和聚焦光束，准确度达到λ/100 RMS 2. 波束准直灵敏度> 1 km曲率半径 3. 复杂光学特性表征，支持单路径或双路径配置 4. 3D MTF测量 5. SpotTrackerTM技术提供绝对波前和倾斜信息 6. 兼容光学工程师模块化系统

详述

1. 直接波前采集高发散和聚焦光束，准确度达到λ/100 RMS 2. 波束准直灵敏度> 1 km曲率半径 3. 复杂光学特性表征，支持单路径或双路径配置 4. 3D MTF测量 5. SpotTrackerTM技术提供绝对波前和倾斜信息 6. 兼容光学工程师?？榛低?/div>

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HASO SWIR LIFT 160图1

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厂家介绍

Axiom Optics提供较新的先进成像和光学计量产品。我们的团队为研究人员和工程师提供专业知识和支持。

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