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平场和成像光栅 523 00 210
分散: 15.6nm/mm 频谱长度: 12.8mm F/Number: 2.2 沟槽密度: 595l/mmIV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上，使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的，并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时，通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上，并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。
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炽热全息光栅 530 20
沟槽密度: 1800l/mm 光谱范围: 190 - 700 nm 火焰: Blazed 闪耀波长: 250nm 基底材料: Fused Silica, NBK7, Pyrex, Zerodur, ULE, Metallic, CustomHORIBA Jobin Yvon生产了一系列闪耀全息母光栅，我们用这些母光栅制作了高精度的复制品。我们的复制光栅保留了OurMaster全息光栅的优点：完美的周期性，加上表面极佳的微粗糙度，消除了鬼影并增强了杂散光抑制较小的凹槽误差提供了非常高的分辨率此外，由于其离子蚀刻的锯齿槽轮廓，这些光栅提供了比标准全息光栅更高的峰值效率。
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平场和成像光栅 523 00 150
分散: 67.4nm/mm 频谱长度: 8.9mm F/Number: 2 沟槽密度: 130l/mmIV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上，使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的，并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时，通?？梢越喔鲈淳劢沟饺肟谙练焐希⒍懒⒌仄拦览醋悦扛鲈吹墓馄?。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。
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单色仪光栅 522 00 500
光谱范围: 1200 - 2400 nm 分散: 3nm/mm 沟槽密度: 570l/mm 偏差 D: 38deg使用IV型像差校正单色器光栅，单个凹面光栅将来自入口狭缝的光分散、准直并重新聚焦到出口狭缝上。通过光栅的简单旋转获得波长扫描。这些光栅的凹槽间距是计算机优化的，以产生具有较小值的高质量图像像散和彗差，即使在大数值孔径下。与Czerny-Turner单色仪（配有一面平面光栅、一面准直镜和一面聚焦镜）相比，像差校正单色仪光栅提供了更好的光收集效率和信噪比。
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脉冲压缩全息衍射光栅
沟槽密度: 1200l/mm 光谱范围: 900 - 1100 nm 火焰: Blazed 基底材料: Custom目前，全息衍射光栅被广泛应用于各种控制激光辐射参数的系统中，由于全息方法允许光栅足够大且具有较大的空间频率，因此当这种光栅被用于激光脉冲的形成和压缩以及产生输出光场的系统中时，人们特别感兴趣。这些光栅增加了对衍射效率（DE）和抗辐射性的要求。
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平场和成像光栅 523 00 060
分散: 48nm/mm 频谱长度: 25mm F/Number: 3.2 沟槽密度: 100l/mmIV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上，使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的，并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时，通?？梢越喔鲈淳劢沟饺肟谙练焐希⒍懒⒌仄拦览醋悦扛鲈吹墓馄?。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。
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平场和成像光栅 523 00 030
分散: 24nm/mm 频谱长度: 25mm F/Number: 3.2 沟槽密度: 200l/mmIV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上，使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的，并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时，通?？梢越喔鲈淳劢沟饺肟谙练焐希⒍懒⒌仄拦览醋悦扛鲈吹墓馄?。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。
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平场和成像光栅 543 00 180
分散: 5nm/mm 频谱长度: 4mm F/Number: 3.9 沟槽密度: 376l/mmIV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上，使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的，并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时，通?？梢越喔鲈淳劢沟饺肟谙练焐希⒍懒⒌仄拦览醋悦扛鲈吹墓馄?。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。
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单色仪光栅 522 00 450
光谱范围: 200 - 800 nm 分散: 2.2nm/mm 沟槽密度: 1484l/mm 偏差 D: 46.4deg使用IV型像差校正单色器光栅，单个凹面光栅将来自入口狭缝的光分散、准直并重新聚焦到出口狭缝上。通过光栅的简单旋转获得波长扫描。这些光栅的凹槽间距是计算机优化的，以产生具有较小值的高质量图像像散和彗差，即使在大数值孔径下。与Czerny-Turner单色仪（配有一面平面光栅、一面准直镜和一面聚焦镜）相比，像差校正单色仪光栅提供了更好的光收集效率和信噪比。
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单色仪光栅 522 00 270
光谱范围: 400 - 2100 nm 分散: 10nm/mm 沟槽密度: 450l/mm 偏差 D: 61.6deg使用IV型像差校正单色器光栅，单个凹面光栅将来自入口狭缝的光分散、准直并重新聚焦到出口狭缝上。通过光栅的简单旋转获得波长扫描。这些光栅的凹槽间距是计算机优化的，以产生具有较小值的高质量图像像散和彗差，即使在大数值孔径下。与Czerny-Turner单色仪（配有一面平面光栅、一面准直镜和一面聚焦镜）相比，像差校正单色仪光栅提供了更好的光收集效率和信噪比。
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平场和成像光栅 533 00 110
分散: 5nm/mm 频谱长度: 32mm F/Number: 4.4 沟槽密度: 807l/mmIV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上，使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的，并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时，通?？梢越喔鲈淳劢沟饺肟谙练焐?，并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。
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