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炽热全息光栅 530 13
沟槽密度: 2400l/mm 光谱范围: 190 - 700 nm 火焰: Blazed 闪耀波长: 250nm 基底材料: Fused Silica, NBK7, Pyrex, Zerodur, ULE, Metallic, CustomHORIBA Jobin Yvon生产了一系列闪耀全息母光栅，我们用这些母光栅制作了高精度的复制品。我们的复制光栅保留了OurMaster全息光栅的优点：完美的周期性，加上表面极佳的微粗糙度，消除了鬼影并增强了杂散光抑制较小的凹槽误差提供了非常高的分辨率此外，由于其离子蚀刻的锯齿槽轮廓，这些光栅提供了比标准全息光栅更高的峰值效率。
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炽热全息光栅 530 29
沟槽密度: 600l/mm 光谱范围: 360 - 1250 nm 火焰: Blazed 闪耀波长: 500nm 基底材料: Fused Silica, NBK7, Pyrex, Zerodur, ULE, Metallic, CustomHORIBA Jobin Yvon生产了一系列闪耀全息母光栅，我们用这些母光栅制作了高精度的复制品。我们的复制光栅保留了OurMaster全息光栅的优点：完美的周期性，加上表面极佳的微粗糙度，消除了鬼影并增强了杂散光抑制较小的凹槽误差提供了非常高的分辨率此外，由于其离子蚀刻的锯齿槽轮廓，这些光栅提供了比标准全息光栅更高的峰值效率。
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炽热全息光栅 530 60
沟槽密度: 950l/mm 光谱范围: 700 - 1700 nm 火焰: Blazed 闪耀波长: 900nm 基底材料: Fused Silica, NBK7, Pyrex, Zerodur, ULE, Metallic, CustomHORIBA Jobin Yvon生产了一系列闪耀全息母光栅，我们用这些母光栅制作了高精度的复制品。我们的复制光栅保留了OurMaster全息光栅的优点：完美的周期性，加上表面极佳的微粗糙度，消除了鬼影并增强了杂散光抑制较小的凹槽误差提供了非常高的分辨率此外，由于其离子蚀刻的锯齿槽轮廓，这些光栅提供了比标准全息光栅更高的峰值效率。
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炽热全息光栅 530 66
沟槽密度: 900l/mm 光谱范围: 700 - 1700 nm 火焰: Blazed 闪耀波长: 850nm 基底材料: Fused Silica, NBK7, Pyrex, Zerodur, ULE, Metallic, CustomHORIBA Jobin Yvon制作了一系列闪耀全息母光栅，我们用这些母光栅制作了高精度的复制品。我们的复制光栅保留了OurMaster全息光栅的优点：完美的周期性，加上表面极佳的微粗糙度，消除了鬼影并增强了杂散光抑制较小的凹槽误差提供了非常高的分辨率此外，由于其离子蚀刻的锯齿槽轮廓，这些光栅提供了比标准全息光栅更高的峰值效率。
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平场和成像光栅 523 00 010
分散: 8nm/mm 频谱长度: 25mm F/Number: 3.2 沟槽密度: 600l/mmIV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上，使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的，并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时，通?？梢越喔鲈淳劢沟饺肟谙练焐希⒍懒⒌仄拦览醋悦扛鲈吹墓馄?。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。
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平场和成像光栅 523 00 080
分散: 4nm/mm 频谱长度: 25mm F/Number: 3.2 沟槽密度: 1200l/mmIV型像差校正平场和成像光栅被设计为将光谱聚焦到平面表面上，使其非常适合与线性或2-射线探测器一起使用。这些光栅由既不等间距也不平行的凹槽制成，并经过计算机优化，以在探测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像。与传统的I型罗兰圆凹面光栅相比，该光栅提供了更好的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的面探测器时，通?？梢越喔鲈淳劢沟饺肟谙练焐?，并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。
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平场和成像光栅 523 00 420
分散: 1.0nm/mm 频谱长度: 203mm F/Number: 5.1 沟槽密度: 1800l/mmIV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上，使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的，并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时，通?？梢越喔鲈淳劢沟饺肟谙练焐希⒍懒⒌仄拦览醋悦扛鲈吹墓馄?。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。
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平场和成像光栅 523 00 430
分散: 1.4nm/mm 频谱长度: 210.4mm F/Number: 7.9 沟槽密度: 1340l/mmIV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上，使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的，并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时，通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上，并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。
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平场和成像光栅 523 00 460
分散: 29nm/mm 频谱长度: 13.4mm F/Number: 2 沟槽密度: 310l/mmIV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上，使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的，并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时，通?？梢越喔鲈淳劢沟饺肟谙练焐希⒍懒⒌仄拦览醋悦扛鲈吹墓馄?。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。
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平场和成像光栅 523 00 470
分散: 27nm/mm 频谱长度: 20mm F/Number: 1.8 沟槽密度: 217l/mmIV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上，使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的，并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时，通?？梢越喔鲈淳劢沟饺肟谙练焐?，并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。
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平场和成像光栅 523 00 810
分散: 67nm/mm 频谱长度: 6.6mm F/Number: 1.8 沟槽密度: 143l/mmIV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上，使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的，并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时，通?？梢越喔鲈淳劢沟饺肟谙练焐希⒍懒⒌仄拦览醋悦扛鲈吹墓馄?。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。
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平场和成像光栅 523 01 040
分散: 37.8nm/mm 频谱长度: 25mm F/Number: 2.8 沟槽密度: 133l/mmIV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上，使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的，并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时，通?？梢越喔鲈淳劢沟饺肟谙练焐?，并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。
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平场和成像光栅 523 01 060
分散: 76nm/mm 频谱长度: 25mm F/Number: 2.8 沟槽密度: 65l/mmIV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上，使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的，并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时，通?？梢越喔鲈淳劢沟饺肟谙练焐?，并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。
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平场和成像光栅 523 03 120
分散: 25.5nm/mm 频谱长度: 24.6mm F/Number: 2 沟槽密度: 340l/mmIV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上，使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的，并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时，通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上，并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。
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平场和成像光栅 533 00 100
分散: 15.8nm/mm 频谱长度: 31mm F/Number: 3.3 沟槽密度: 372l/mmIV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上，使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的，并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时，通?？梢越喔鲈淳劢沟饺肟谙练焐?，并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。
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平场和成像光栅 533 00 450
分散: 7.1nm/mm 频谱长度: 21.2mm F/Number: 2.3 沟槽密度: 900l/mmIV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上，使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的，并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时，通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上，并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。
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平场和成像光栅 533 00 550
分散: 8.4nm/mm 频谱长度: 49mm F/Number: 4 沟槽密度: 800l/mmIV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上，使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的，并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时，通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上，并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。
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平场和成像光栅 533 00 580
分散: 16nm/mm 频谱长度: 24mm F/Number: 3.3 沟槽密度: 430l/mmIV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上，使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的，并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时，通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上，并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。
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平场和成像光栅 533 00 610
分散: 40nm/mm 频谱长度: 11.3mm F/Number: 3.5 沟槽密度: 250l/mmIV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上，使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的，并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时，通?？梢越喔鲈淳劢沟饺肟谙练焐?，并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。