研究目的
基于更新的复折射率数据，利用光学光线追踪模型研究封装材料对组件性能的影响。
研究成果
该研究成功编制了多种封装材料的最新复折射率数据，并将其应用于光线追踪模拟以预测CTM电流损耗。与实际测量结果相比，预测结果被认为足够准确，其中封装材料的低波长截止被确定为最小化CTM电流损耗的最关键参数。需要进一步研究来完善模拟模型并验证环境循环?？樗鸷牡脑げ?。
研究不足
该方法预测的CTM损耗略高于实际测量值，表明模型需要进一步优化。该研究还假设太阳能电池在环境测试期间得到了封装材料的充分保护。
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[2018年IEEE第七届世界光伏能源转换大会(WCPEC)（第45届IEEE光伏专家会议、第28届光伏科学与工程会议及第34届欧洲光伏专家会议联合会议）- 美国夏威夷州威科洛亚村（2018.6.10-2018.6.15）] 2018年IEEE第七届世界光伏能源转换大会(WCPEC)（第45届IEEE光伏专家会议、第28届光伏科学与工程会议及第34届欧洲光伏专家会议联合会议）- 基于不同封装材料折射率数据的电池到组件损耗及环境损耗预测与验证
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[2018年IEEE第七届世界光伏能源转换大会(WCPEC)（第45届IEEE光伏专家会议、第28届光伏科学与工程会议及第34届欧洲光伏专家会议联合会议）- 美国夏威夷州威科洛亚村（2018.6.10-2018.6.15）] 2018年IEEE第七届世界光伏能源转换大会(WCPEC)（第45届IEEE光伏专家会议、第28届光伏科学与工程会议及第34届欧洲光伏专家会议联合会议）- 基于不同封装材料折射率数据的电池到组件损耗及环境损耗预测与验证
DOI：10.1109/PVSC.2018.8547715
出版年份：2018
更新时间：2025-10-22 19:40:53
摘要：
更新了针对各类商用及研究用太阳能组件封装材料的复折射率数据（n和（cid:2）（cid:3）（cid:4）。这些数据作为光线追踪模拟的输入参数，用于预测标准丝网印刷太阳能组件的CTM损耗，并与电池及组件层面实际IV和EQE测量得出的CTM损耗计算值进行对比。研究发现该方法能实现充分预测，其中重要的封装材料（cid:5）（cid:6）（cid:7）（cid:8）（cid:7）（cid:5）（cid:9）（cid:10）（cid:8）（cid:11）（cid:12）（cid:9）（cid:11）（cid:5）（cid:4）（cid:13）（cid:14）（cid:8）（cid:4）（cid:15）（cid:11）（cid:16）（cid:11）（cid:15）（cid:11）（cid:17）（cid:11）（cid:16）（cid:18）（cid:4）（cid:19）（cid:20）（cid:21）（cid:4）（cid:5）（cid:22）（cid:8）（cid:8）（cid:10）（cid:16）（cid:9）（cid:4）（cid:23）（cid:14）（cid:12）（cid:12）（cid:24）（cid:4）（cid:4）（cid:20）（cid:6）（cid:10）（cid:4）（cid:16）（cid:4）（cid:7）（cid:16）（cid:25）（cid:4）（cid:2）（cid:4）（cid:7）（cid:8）（cid:10）（cid:4）还被用于预测组件湿热循环后的CTM电流损耗。
作者：
Shiwen Zhang，Nitin Nampalli，David N. Payne，Alexander Slade，Matthew B. Edwards
机构：
University of New South Wales
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