研究目的
展示一种基于激光诱导石墨烯纳米带（LIGNs）的等离子体显示器件（PDD），该器件具有优异的场致电子发射（FEE）特性和卓越的等离子体发光性能。
研究成果
LIGNs具有优异的场发射电子特性和卓越的等离子体发光性能，使其成为高亮度显示器件极具前景的候选材料。LIGNs可直接激光图案化，这一特性为显示技术应用提供了显著优势。
研究不足
该研究未涉及LIGN制造工艺在工业生产中的可扩展性，也未探讨基于LIGN的光电探测器在连续运行下的长期耐久性。
1：实验设计与方法选择：
采用脉冲CO?激光系统对聚酰亚胺薄膜进行激光诱导以获得LIGNs，并测量其场发射效率和等离子体发光特性。
2：样品选择与数据来源：
以聚酰亚胺薄膜作为LIGNs的基底材料。
3：实验设备与材料清单：
Universal Laser Systems VLS2.30激光系统、聚酰亚胺薄膜、场发射扫描电子显微镜(FESEM)、透射电子显微镜(TEM)、拉曼光谱仪、X射线光电子能谱仪(XPS)、X射线衍射仪(XRD)、Keithley 6517B静电计、Keithley 2410静电计。
4：30激光系统、聚酰亚胺薄膜、场发射扫描电子显微镜(FESEM)、透射电子显微镜(TEM)、拉曼光谱仪、X射线光电子能谱仪(XPS)、X射线衍射仪(XRD)、Keithley 6517B静电计、Keithley 2410静电计。 实验步骤与操作流程：
4. 实验步骤与操作流程：采用多种技术手段对LIGNs进行表征，并测量其场发射效率与等离子体发光性能。
5：数据分析方法：
基于福勒-诺德海姆理论分析场发射效率特性。
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Universal Laser Systems VLS2.30
VLS2.30
Universal Laser Systems
Laser induction on polyimide sheets to obtain LIGNs.
-
TEM
Jeol 2011
Jeol Taiwan Semiconductors Limited
Characterization of LIGNs.
-
XRD
Bruker D8-discover diffractometer
Bruker
Characterization of LIGNs.
-
Keithley 6517B electrometer
6517B
Keithley Instruments, Inc.
Measurement of current–voltage characteristics.
-
Keithley 2410 electrometer
2410
Keithley Instruments, Inc.
Measurement of plasma current density.
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DC pulsed voltage
HPP-20KA01KAT B
Delta Electronics Inc.
Ignition of plasma.
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Polyimide sheets
IM301450
Goodfellow
Substrates for LIGNs.
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FESEM
SU5000
Hitachi High-Technologies Corporation
Characterization of LIGNs.
-
Raman spectroscopy
Renishaw confocal microscope
Renishaw
Characterization of LIGNs.
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X-ray photoelectron spectroscopy
PHI 6000
Physical Electronics
Characterization of LIGNs.
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