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准分子激光退火下Ni/4H-SiC相互作用及欧姆接触硅化物形成

DOI:10.1016/j.mtla.2019.100528 期刊:Materialia 出版年份:2019 更新时间:2025-09-11 14:15:04
摘要: 采用波长308纳米的激光退火技术在4H-SiC上激活硅化镍反应,以研究相关原子物种的相互作用及反应过程。为此,沉积镍层厚度从100纳米逐步缩减至10纳米,激光能量密度调节范围为2.2至4.2焦耳/平方厘米。通过X射线衍射、能量色散X射线光谱、拉曼光谱、透射电子显微镜的结构表征,结合扫描电子显微镜的形貌分析,并依据理论预测与激光能量密度的函数关系,研究发现初始镍层厚度起主导作用——尤其在超过镍熔点阈值(2.8焦耳/平方厘米)时。普遍规律表明:超过该阈值后,基底会释放足量硅供硅化反应使用,且释放量随激光能量密度增加而提升。这决定了硅化接触的化学计量比与形貌特征,实际取决于可用镍原子数(即镍层厚度)及热分布情况(固定能量密度3.8焦耳/平方厘米下验证)。此外,每个样品的接触层内均形成逐层变化的化学计量比,最深层硅化物相对富硅更多。这些发现均影响测试二极管的电学参数?;谑莨亓治觯琋iSi2接触层与无碳界面有助于降低电阻贡献。
作者: Paolo Badalà,Simone Rascunà,Brunella Cafra,Anna Bassi,Emanuele Smecca,Massimo Zimbone,Corrado Bongiorno,Cristiano Calabretta,Francesco La Via,Fabrizio Roccaforte,Mario Saggio,Giovanni Franco,Angelo Messina,Antonino La Magna,Alessandra Alberti
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研究概述 实验方案 设备清单

研究镍与碳化硅在准分子激光退火下形成欧姆接触时的相互作用与反应。

研究表明,激光退火可有效用于在4H-SiC上形成镍基欧姆接触,其中初始镍厚度和激光能量密度对接触的化学计量比和形貌起决定性作用。富硅镍硅化物相和无碳界面有助于降低接触电阻。研究结果表明,可针对薄化4H-SiC功率器件的背面高性能欧姆接触定制激光退火工艺。

该研究聚焦于特定激光退火条件下的相互作用与反应,其发现可能无法直接适用于其他退火方法或材料。镍-碳-硅相互作用的复杂性以及碳化硅的耐热性,为充分理解其机理带来了挑战。

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