研究目的
采用双波导法研究平面材料尺寸与位置对屏蔽效能测量结果的影响。
研究成果
双波导法是测量平面材料屏蔽效能的有效方法，其中样品尺寸和位置是关键因素。当导电材料的尺寸与校准平面处波导的表面尺寸相匹配时，可获得最佳测量结果。研究还表明，材料放置在双波导的任一端口以及波导长度对屏蔽效能测量结果均无显著影响。
研究不足
该研究仅限于平面材料及特定频段（L波段和X波段）。使用大型波导在某些应用中的实用性也存在限制。
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[IEEE 2019年国际电磁兼容研讨会 - EMC欧洲会议 - 西班牙巴塞罗那 (2019.9.2-2019.9.6)] 2019年国际电磁兼容研讨会 - EMC欧洲会议 - 采用双波导法测量屏蔽效能时平面材料尺寸与位置的影响
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[IEEE 2019年国际电磁兼容研讨会 - EMC欧洲会议 - 西班牙巴塞罗那 (2019.9.2-2019.9.6)] 2019年国际电磁兼容研讨会 - EMC欧洲会议 - 采用双波导法测量屏蔽效能时平面材料尺寸与位置的影响
DOI：10.1109/EMCEurope.2019.8871968
出版年份：2019
更新时间：2025-09-11 14:15:04
摘要：
屏蔽效能测量的双波导法是一种非常有效且实用的方法，因为它能快速在宽频范围内提供可靠结果。然而对于平面材料而言，样品的尺寸和位置至关重要。需要测试不同尺寸和形状的样品以确定能提供可靠结果的方案。此外，还需研究样品沿波导的位置、与源的距离以及使用不同长度波导的影响。本文通过研究这两个参数来考察它们对测量结果的影响。
作者：
Evangelia Tourounoglou，Vasiliki Gkatsi，Anne Roc’h，Robert Vogt-Ardatjew，Hans Schipper，Frank Leferink
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