研究目的
利用光电子发射显微镜研究不同溶剂对P3HT薄膜表面形貌的影响。
研究成果
P3HT在各溶剂中的溶解度被确定为决定畴尺寸的主要参数,而沸点则起次要作用。利用PEEM研究表面形貌的能力是理解半导体聚合物薄膜结构-功能关系的宝贵工具。
研究不足
该研究对表面高度敏感,可能无法完全代表薄膜的体相结构。此外,未直接探讨薄膜形貌与器件性能之间的关联。
研究目的
利用光电子发射显微镜研究不同溶剂对P3HT薄膜表面形貌的影响。
研究成果
P3HT在各溶剂中的溶解度被确定为决定畴尺寸的主要参数,而沸点则起次要作用。利用PEEM研究表面形貌的能力是理解半导体聚合物薄膜结构-功能关系的宝贵工具。
研究不足
该研究对表面高度敏感,可能无法完全代表薄膜的体相结构。此外,未直接探讨薄膜形貌与器件性能之间的关联。
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