研究目的
阐明聚合物发光电化学池（PLECs）中神秘的反向偏置电致发光（EL）的起源，并建立一个解释其产生机理的模型。
研究成果
该研究成功阐明了PLECs中反向偏置电致发光的起源，将其归因于电子和空穴从带隙态隧穿注入到去掺杂本征区。所建立的模型解释了器件在正向和反向偏置下的特性，表明其结区比先前认为的更窄。这一见解可为未来优化PLEC性能的研究提供指导。
研究不足
该研究的局限性在于结宽度的分辨率可能远低于实际值，从而影响注入势垒高度估算的准确性。需要进一步研究以了解去掺杂LEC结的更精细掺杂结构。
1：实验设计与方法选择：
本研究涉及平面型PLECs的制备、不同条件下的激活处理以及通过重复热循环诱导部分去掺杂。采用传输测量和直接成像技术分析器件性能。
2：样品选择与数据来源：
使用两个标称相同的平面型PLECs，在冷却前进行差异化激活处理，以研究去掺杂对其电学特性和电致发光特性的影响。
3：实验设备与材料清单：
PLECs采用MEH-PPV作为发光聚合物，PEO和KTf作为聚合物电解质，铝电极构成。测试使用显微低温恒温器、温度控制器及多种测量设备。
4：实验流程与操作步骤：
PLECs在特定温度和电压下激活，冷却冻结结区后进行热循环处理。每次循环前后测量I-V特性和电致发光特性。
5：数据分析方法：
运用Fowler-Nordheim隧穿和热电子发射等模型分析数据，探究正反向偏压下电致发光的注入机制。
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Keithley 237
237
Keithley
High voltage source measure unit for powering the PLECs.
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MEH-PPV
Luminescent polymer used in the active layer of PLECs.
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PEO
Polymer electrolyte component in the PLEC active layer.
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KTf
Potassium trifluoromethanesulfonate, used in the polymer electrolyte.
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Aluminum electrodes
Electrodes for the PLEC devices.
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Microscopy cryostat
Used for mounting and testing the PLEC under controlled temperatures.
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Hamamatsu photodiode
Hamamatsu
Used for measuring EL intensity.
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