研究目的
评估中能(20 keV)Ar+离子束溅射(IBS)在块体ZnO中形成波纹图案的情况,并分析波纹图案的粗糙度、波纹波长和有序性。此外,利用光谱椭偏仪(SE)评估材料经离子束改性后的光学损伤和表面粗糙化情况,建立模型,并提取辐照后的主要光学参数。
研究成果
该研究表明,通过20 keV氩离子辐照可在块体氧化锌晶体上形成波纹纳米图案。波纹动力学特征显示粗糙度和波长均遵循幂律关系。研究采用三层SE光学模型来模拟样品的损伤与粗糙度演变过程。受损氧化锌层的光学常数表现出随注量增加折射率降低,且在带隙下方吸收增强的特性。即使在高注量条件下,辐照样品也未完全非晶化,证实了该材料的抗辐射性。
研究不足
该研究受限于高注量下严重的损伤和粗糙度,这使得两种效应的解卷积极为困难。此外,氩离子的注入效应也可能在损伤层中发挥作用,导致空洞的产生。
1:实验设计与方法选择:
本研究采用20 keV Ar+离子斜入射(60°)的离子束刻蚀技术在ZnO块体衬底上制备纳米波纹结构,并通过原子力显微镜(AFM)分析波纹形貌。
2:样品选择与数据来源:
选用c面单面抛光的ZnO块体晶体作为离子辐照衬底。
3:实验设备与材料清单:
辐照实验使用Danfysik 1090离子注入机完成;AFM测量分别采用Agilent 5500 Picoplus和Nanoscope IIIa设备;椭偏测量使用J. A. Woollam公司BASE-160型光谱椭偏仪。
4:实验流程与操作步骤:
在不同注量条件下辐照样品,并通过AFM观察其表面形貌;采用中能离子散射技术(MEIS)评估结构损伤;椭偏测量在室温下进行。
5:数据分析方法:
AFM数据通过Gwyddion 2.53软件处理;椭偏光谱采用包含ZnO块体衬底、ZnO损伤层和表面粗糙度层的三层物理模型进行分析。
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