研究目的
利用原位偏压和离轴电子全息术研究Zn2N3纳米线的掺杂与表面电荷特性。
研究成果
该研究成功展示了利用原位偏置和离轴电子全息术测量Zn2N3纳米线中的掺杂和表面电荷，从而深入揭示了其光电特性。
研究不足
该技术受限于电子显微镜的分辨率以及原位偏压装置的稳定性。
2016年欧洲显微镜学大会：会议录 || 利用原位偏压和离轴电子全息术对氧化锌纳米线中的掺杂和表面电荷进行定量测量
DOI：10.1002/9783527808465.EMC2016.5916
出版年份：2016
更新时间：2025-09-11 14:15:04
摘要：
利用原位偏压和离轴电子全息术测量Zn2N3纳米线中的掺杂与表面电荷
作者：
Martin den Hertog，Jean-Luc Rouviere，Robert McLeod，Eva Monroy，Julien Pernot
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