研究目的
研究空间辐射对硅太阳能电池的影响,并开发模型和缓解技术以提高其抗辐射能力。
研究成果
研究得出结论:基于物理的模型和模拟能够准确预测太阳电池性能的辐射退化。通过将SRIM计算得出的不同质子能量与注量下的空位分布应用于TCAD模型,模拟结果与实验数据高度吻合。该研究还揭示了超薄硅太阳电池在高辐射空间环境中的应用潜力——高能质子造成的损伤极小。
研究不足
该研究的局限性在于,商用TCAD电子器件模拟器/工具中缺乏用于预测辐射致退化的精确模型和软件。此外,对太阳能电池辐射效应的实验研究既昂贵又耗时。
1:实验设计与方法选择:
本研究采用基于物理的模型和仿真来分析质子辐照后太阳能电池性能的退化。这些模型包含多种陷阱类型、半导体带隙中的多个能级,以及用户自定义的陷阱密度和俘获截面。
2:样品选择与数据来源:
研究聚焦于超薄硅太阳能电池,数据来源于深能级瞬态谱(DLTS)实验和SRIM(物质中离子阻止本领与射程)模拟。
3:实验设备与材料清单:
研究使用了TCAD电子器件仿真器/工具、SRIM软件以及DLTS设备进行数据采集。
4:实验步骤与操作流程:
研究涉及超薄硅太阳能电池中辐射效应的数值模拟,包括位移损伤的计算和辐射诱导缺陷能级的分析。
5:数据分析方法:
研究采用统计技术和软件工具来分析实验数据,包括对比模拟与实测数据以验证模型。
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