研究目的
回顾并介绍电荷耦合器件（CCD）在光学断层扫描系统中的应用，探讨其基本工作原理、结构、评判标准、应用领域以及相较于其他光电传感器的优势。
研究成果
电荷耦合器件（CCD）传感器因其小像元尺寸和对暗区的灵敏度，被认为是比其他光电器件更优的光学探测器。强烈推荐将其用于断层扫描系统以监测流量测量系统，为在线测量中存在的终止、限制、成本、低分辨率和响应慢等问题提供解决方案。
研究不足
该论文并未明确提及CCD在光学断层扫描系统中的局限性，但暗示传感器的选择对更好的图像重建至关重要。
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介绍电荷耦合器件（CCD）在光学断层扫描系统中的应用
DOI：10.11113/jt.v73.4253
期刊：Jurnal Teknologi
出版年份：2015
更新时间：2025-09-12 10:27:22
摘要：
断层扫描系统是一种用于获取物体内部截面图像的方法。光学断层扫描是广泛应用于医学和工业领域的技术之一。本文综述了电荷耦合器件（CCD）的若干应用，并介绍其在光学断层扫描系统中的具体应用。既往研究多将该元件用于位移测量和摄像用途。本文阐述了其工作原理、基本构造、技术标准、应用场景，以及相较于当前市场上其他光电传感器的优势。该传感器在天文学和医学等领域的应用已证明其在图像采集方面的卓越性能。鉴于CCD在图像重建中能实现高性能表现，应进一步拓展其在光学断层扫描领域的应用。
作者：
Juliza Jamaludin，Ruzairi Abdul Rahim，Herlina Abdul Rahim，Hafiz Fazalul Rahiman，Siti Zarina Mohd Muji，Naizatul Shima Mohd Fadzil，Leow Pei Ling，Fahjumi Jumaah，Anita Ahmad，Nor Muzakkir Nor Ayob，Ling En Hong
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