研究目的
氧化铜量子点的合成及表面修饰剂对其性能影响的研究。
研究成果
采用表面修饰剂通过沉淀法成功合成了平均晶粒尺寸为2.3纳米、带隙为2-2.5电子伏特的氧化铜量子点。表面修饰剂的类型显著影响纳米颗粒的形貌、带隙和分散性。由于CTAB具有最高的zeta电位值,其提供了最佳的分散效果。
研究不足
该研究聚焦于具有特定表面修饰剂的氧化铜量子点的合成与表征。不同表面修饰剂之间的对比有限,且该研究未探索这些量子点在器件或系统中的应用。
1:实验设计与方法选择
采用沉淀法,通过不同表面修饰剂(PVP、Tween 80、CTAB)合成了氧化铜量子点。
2:样品选择与数据来源
以醋酸铜一水合物、氢氧化钠和醋酸为起始原料,添加表面修饰剂以控制CuO纳米粒子的尺寸和形貌。
3:实验设备与材料清单
XRD(西门子D-500)用于结构表征,FTIR光谱仪用于化学成分分析,SEM(LEO 1455 VP)、TEM(JEM 2100)、HRTEM用于微观结构分析,紫外-可见分光光度计用于吸收光谱测定。
4:实验步骤与操作流程
配制醋酸铜水溶液,依次加入醋酸和表面修饰剂,加热溶液后滴加氢氧化钠,所得沉淀经洗涤干燥处理。
5:数据分析方法
采用谢乐公式计算平均晶粒尺寸,利用Tauc方程估算带隙值,通过Zeta电位测量评估悬浮液稳定性。
独家科研数据包,助您复现前沿成果,加速创新突破
获取完整内容-
XRD
Siemens D-500
Siemens
Structural characterization of samples
-
FTIR Spectrometer
Perkin-Elmer Spectrum One
Perkin-Elmer
Chemical composition analysis
-
TEM
JEM 2100
JEOL
Microstructure analysis
-
SEM
LEO 1455 VP
LEO
Microstructure analysis
-
UV–Vis spectrophotometer
UV-T 80
PG
Absorption spectra measurement
-
登录查看剩余3件设备及参数对照表
查看全部