研究目的
通过室温脉冲激光沉积法制备薄层VO2薄膜及Au/VO2/VO2-x/Au金属-氧化物-金属结构,并研究其忆阻特性以应用于神经形态电子器件。
研究成果
该研究成功制备了具有神经形态电子器件适用忆阻特性的薄层VO2薄膜及Au/VO2/VO2-x/Au金属-氧化物-金属结构。实验证实了忆阻效应,并确立了其与半导体层厚度及氧空位浓度的依赖关系。在特定氧压和层厚条件下观察到了电阻开关的易失性行为。
研究不足
在室温下沉积的薄膜是非晶态的,这可能会影响忆阻特性。该研究仅限于脉冲激光沉积的特定条件和所使用的材料。
1:实验设计与方法选择:
采用无液滴模式的脉冲激光沉积技术在室温下于c面蓝宝石衬底上制备VO2薄膜及MOM结构。通过调节氧压控制VO2-x中的x值。
2:样品选择与数据来源:
使用KrF准分子激光烧蚀纯度为99.9%的钒金属靶材。薄膜生长过程中的氧压调节范围为0.1至40毫托。
3:9%的钒金属靶材。薄膜生长过程中的氧压调节范围为1至40毫托。
实验设备与材料清单:
3. 实验设备与材料清单:KrF准分子激光器(248纳米)、钒金属靶材、c面蓝宝石衬底、金电极材料。
4:实验步骤与操作流程:
在室温下沉积薄膜。通过X射线衍射分析结构特性,采用循环I-V特性测量电学性能。
5:数据分析方法:
通过X射线衍射图谱分析晶体结构,测量I-V特性研究忆阻特性。
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