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硅基单层石墨烯的原位合成及其在近红外光电探测器中的应用

DOI:10.1039/c9ra06792b 期刊:RSC Advances 出版年份:2019 更新时间:2025-09-16 10:30:52
摘要: 通过简单的热退火工艺实现了单层石墨烯在硅(Si)衬底上的直接集成,该工艺以顶部铜(Cu)层作为催化剂,插入的聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)作为碳源。在Si衬底上旋涂PMMA碳源后,采用电子束蒸发法将Cu催化剂沉积在PMMA/Si上。随后,在简单的热退火过程中,通过PMMA的分解脱氢和Cu的催化作用,直接在Si上合成了石墨烯。此外,在优化的生长条件下,证明了单层石墨烯直接形成于Si衬底上。利用原位生长的石墨烯/Si异质结,在无需任何转移后处理的情况下,直接制备出了在1550 nm波长下具有高探测率((cid:1)1.1 (cid:3) 1010 cm Hz1/2 W(cid:4)1)和高响应度(50 mA W(cid:4)1)的近红外光电探测器。这种在硅上直接生长石墨烯的方法具有高度可扩展性,且与现有纳米/微米制造系统兼容,从而推动了石墨烯在微电子领域的应用。
作者: Pengcheng Xiang,Gang Wang,Jiurong Li,Anli Xu,Menghan Zhao,Wei Zhu,Qinglei Guo,Da Chen
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研究概述 实验方案 设备清单

研究硅衬底上单层石墨烯的直接合成及其在无需转移工艺的近红外光电探测器中的应用。

该研究成功展示了一种可扩展的直接在硅衬底上合成单层石墨烯的方法,从而实现了具有高探测率和高响应度的高性能近红外光电探测器。该方法与现有的纳米/微米制造系统兼容,推动了石墨烯在微电子领域的应用。

退火温度不得超过900°C以防止铜层润湿和蒸发,且退火时间限制为13分钟。硅衬底中残留的铜原子虽微量,但可能影响石墨烯质量。

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