研究目的
制备并分析基于掺杂WO3的TeO2玻璃的PiG基LED，以提高白光发光二极管的稳定性和性能。
研究成果
基于PiG的pc-WLED展现出优异的稳定性，其CIE坐标偏差小于基于PiS的pc-WLED，发光效率达41.32流明/瓦，相关色温为4570开尔文，显色指数为83.31，适用于pc-WLED应用领域。
研究不足
该研究聚焦于基于磷化铟镓的pc-WLED的稳定性和性能，但未探讨制备工艺的可扩展性以及与传统方法相比的成本效益。
1：实验设计与方法选择：
本研究采用固相反应法合成Li2MgTiO4:Mn4+, Hf4+红色荧光粉，以及低温熔融淬火法制备掺杂WO3的TeO2基玻璃。将荧光粉与玻璃粉末混合熔融形成PiG板。
2：样品选择与数据来源：
使用定制红色荧光粉和商用YAG:Ce3+荧光粉。
3：实验设备与材料清单：
X射线衍射仪（布鲁克D2 Phaser）、荧光分光光度计（日立F-7000）、椭偏仪（J. A. Woolam, M2000-DI, NCKU）、差示扫描量热仪（DSC, 梅特勒）、紫外-可见分光光度计（U-3310）。
4：0）、椭偏仪（J. A. Woolam, M2000-DI, NCKU）、差示扫描量热仪（DSC, 梅特勒）、紫外-可见分光光度计（U-3310）。 实验步骤与操作流程：
4. 实验步骤与操作流程：混合物经预热、熔融、冷却形成玻璃锭。将玻璃粉末与荧光粉混合熔融后浇铸成板。
5：数据分析方法：
分析XRD图谱、PL与PLE光谱、透射光谱及发光效率测量数据。
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获取完整内容-
X-ray diffractometer
Bruker D2 Phaser
Bruker
Measurement of crystalline phases of phosphor powder, glass powder, and PiG samples.
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Fluorescence spectrophotometer
Hitachi F-7000
Hitachi
Measurement of photoluminescence excitation (PLE) and photoluminescence (PL) spectra.
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Ellipsometer
J. A. Woolam, M2000-DI, NCKU
J. A. Woolam
Measurement of the refractive index of glass samples.
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Differential scanning calorimeter
DSC, METTLER
METTLER
Thermal test of samples.
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UV-Visible spectrophotometer
U-3310
Recording of transmittance spectra.
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