研究目的
研究利用激光诱导击穿光谱技术(LIBS)快速、准确、在线监测高压绝缘子污染情况的可行性,以提高电力传输的安全性和可靠性。
研究成果
研究表明,激光诱导击穿光谱(LIBS)是检测高压绝缘子上污染元素的有效方法,具有在线监测的潜力。该研究确定了LIBS分析的最佳参数,包括激光能量强度和延迟时间,以提高检测精度。同时发现减小污染颗粒尺寸并增加其密度也能增强LIBS信号。
研究不足
该研究的局限性在于绝缘子表面污染成分的复杂性和可变性,这可能影响激光诱导击穿光谱(LIBS)分析的准确性。此外,LIBS的最佳参数(如激光能量、延迟时间)可能因污染的具体条件和绝缘子材料而异。
1:实验设计与方法选择:
本研究采用激光诱导击穿光谱(LIBS)技术对高压绝缘子污染进行定性与定量分析。
2:样本选取与数据来源:
从高压绝缘子上采集了自然污染和人工污染样本。
3:实验设备与材料清单:
使用由Nimma-900激光系统、Avantes光谱仪和DG645延迟控制器组成的LIBS系统。
4:实验步骤与操作流程:
研究了激光能量强度、延迟时间、污染颗粒粒径及密度对LIBS信号的影响。
5:数据分析方法:
通过分析光谱强度确定污染物的成分。
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Oxford X-Max 20 EDS detector
X-Max 20
Oxford Instruments Co., Ltd.
Used for energy dispersive X-ray spectroscopy analysis.
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Leica EMACE 200 fully automatic low-vacuum coating system
EMACE 200
Leica
Used for coating the sample with Pt to improve its surface conductivity.
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Malvern Mastersizer 2000 laser particle-size analyzer
Mastersizer 2000
Malvern
Used for measuring the particle size of the NaCl samples and kaolin clay.
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Zeiss Supra 55 SEM
Supra 55
Carl Zeiss Co., Ltd.
Used for scanning electron microscopy analysis.
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Nimma-900 laser system
Nimma-900
Used for generating laser pulses for LIBS analysis.
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Avantens spectrometer
Used for acquiring the atomic emission spectrum.
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DG645 delay controller
DG645
Controls the interval between the output of the laser system and the acquisition of the spectrometer.
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