研究目的
研究调Q Nd:YAG激光器参数(如激光功率、频率和脉冲重复频率)的变化对脉冲激光沉积技术制备的SnO2薄膜光学特性的影响。
研究成果
SnO2薄膜采用脉冲激光沉积法在玻璃基底上生长。研究了在向真空腔充入氩气前后,光学性能随激光脉冲重复频率的变化规律。随着激光重复频率的增加,薄膜吸收率降低。在充入氩气后高激光脉冲重复频率条件下出现显著变化。吸收系数与消光系数呈现相同变化趋势:两者均随波长减小而增大,随激光脉冲重复频率增加而减小。a和k参数的变化表明充入氩气后吸收边发生偏移,且光学带隙有所增大。实部与虚部介电常数所反映的折射率在充氩前后也存在差异。
研究不足
本研究仅限于探讨调Q Nd:YAG激光参数变化对SnO2薄膜光学特性的影响,未考虑其他沉积技术或材料的影响。
1:实验设计与方法选择:
采用波长1064纳米、脉宽约10纳秒的调Q Nd-YAG激光器,在玻璃基底上沉积SnO?薄膜。激光束聚焦于SnO?靶材表面,通过足够高的功率密度和短脉冲持续时间,使材料以与靶材相同的化学计量比蒸发并释放。
2:样品选择与数据来源:
将二氧化锡粉末研磨并压制成直径1英寸、厚度3毫米的圆片。研究采用脉冲激光沉积法制备的二氧化锡薄膜光学特性。
3:实验设备与材料清单:
调Q Nd-YAG激光器、玻璃基底、SnO?靶材、氩气。
4:实验步骤与操作流程:
实验参数设置为激光脉冲能量120毫焦、重复频率6赫兹、脉宽10纳秒,分别采用不同激光脉冲数(每秒50、100、150和200次)。SnO?薄膜在250°C基底温度下制备。首组测量在10??毫巴真空压力下进行,随后向真空腔泵入氩气(50公斤/平方厘米),使真空压力从无氩气的10??毫巴升至含氩背景的10?3毫巴后重复测量。
5:150和200次)。SnO?薄膜在250°C基底温度下制备。首组测量在10??毫巴真空压力下进行,随后向真空腔泵入氩气(50公斤/平方厘米),使真空压力从无氩气的10??毫巴升至含氩背景的10?3毫巴后重复测量。
数据分析方法:
5. 数据分析方法:在同一波长范围内计算吸收系数(α)、折射率(n)、消光系数(k)以及实部(εr)和虚部(εi)介电常数等光学特性参数。
独家科研数据包,助您复现前沿成果,加速创新突破
获取完整内容