1：实验设计与方法选择：

通过传统固相反应法合成了一系列Sr2-xAl3EuxO6F（x=0.00、0.01、0.03、0.05、0.07和0.10）荧光粉。所用原料为Sigma-Aldrich公司提供的纯SrCO3（99.8%）、Al2O3（≥99.6%）、SrF2（99.99%）和Eu2O3（99.999%）。除略微过量的SrF2（5 wt%）外，精确称量原料进行充分研磨。将研磨后的混合物转移至氧化铝坩埚，在空气中1250?C烧结4小时。采用类似方法制备Sr

2：07和10）荧光粉。所用原料为Sigma-Aldrich公司提供的纯SrCO3（8%）、Al2O3（≥6%）、SrF2（99%）和Eu2O3（999%）。除略微过量的SrF2（5 wt%）外，精确称量原料进行充分研磨。将研磨后的混合物转移至氧化铝坩埚，在空气中1250?C烧结4小时。采用类似方法制备Sr8Al3O6F:

1.8Al3O6F:Ba0.1/Eu0.1样品，其中以BaCO3（99.8%）作为Ba2+来源。

3：1/Eu1样品，其中以BaCO3（8%）作为Ba2+来源。 样品选择与数据来源：

2. 样品选择与数据来源：使用Philip’s x’pert pro衍射仪（配备Ni滤光片Cu-Kα射线，λ=1.54 ?，工作电压45 kV，电流40 mA）测量合成材料的X射线衍射（XRD）特性。

4：54 ?，工作电压45 kV，电流40 mA）测量合成材料的X射线衍射（XRD）特性。 实验设备与材料清单：

3. 实验设备与材料清单：采用DFT建模估算Sr2Al3O6F的电子结构；通过德国WITEC公司Confocal Raman Microscope（alpha 300 R）采集未掺杂Sr2Al3O6F的拉曼光谱；使用岛津UV 3600记录紫外-可见漫反射光谱（DRS）；以450W氙闪光灯为激发源，通过YvonFluorolog 3荧光光谱仪测量光致发光（PL）特性；XPS扫描实验在英国牛津仪器公司Omicron ESCA+设备上完成。

5：实验流程与操作规范：

通过色彩计算软件估算国际照明委员会（CIE）色坐标。将最佳配比的红光荧光粉与Y3Al5O12:Ce3+黄光荧光粉混合，分散于透明硅树脂制成荧光混合物，粘贴于460 nm蓝光InGaN LED芯片（工作电流300 mA）上制备白光LED模块，使用OCEAN-FX-XRI-EX CCE分光光度计测量其PL特性。

6：数据分析方法：

通过能带结构计算研究Sr2Al3O6F的电子结构，并计算投影态密度（pDOS）与总态密度（DOS）。采用Judd-Ofelt理论分析发射带的各种辐射特性。