研究目的
通过电路优化(无需任何工艺改进),展示一款集成于标准CMOS工艺、读出噪声低于0.5个电子的VGA CMOS图像传感器。
研究成果
该研究表明,通过合理的电路噪声优化,采用标准CIS工艺的全VGA APS可实现深度亚电子噪声水平。所提出的技术使像素具有低至0.25 e? rms的输入参考TRN(时序噪声),其中大部分峰值达到0.48 e? rms。该方法不会影响动态范围、拖影或PRNU(像素响应非均匀性),且PPD(光电二极管)的量子效率不受相邻PMOS n阱的影响。
研究不足
该研究仅限于室温条件下的特性表征,未探究传感器在不同环境条件下的性能表现。采用标准CMOS工艺且未进行优化改进,可能会限制进一步降低噪声的可能性。