研究目的
通过展示脉冲激光沉积(PLD)制备的Si-Cu2O微柱阵列上高质量保护层的影响,克服光降解问题并实现光电化学(PEC)水分解过程中的长期运行。
研究成果
该研究利用脉冲激光沉积法(PLD)成功开发出一种具有高光稳定性的串联Si/Cu2O微柱光阴极,其表面覆盖有钝化ZnO和TiO2超薄膜。优化后的器件在相对于可逆氢电极(RHE)0 V电位下实现了7.5 mA cm?2的光电流,0.85 V的光电压,并展现出超过75小时的稳定性,证明了PLD技术在构建高纵横比微柱阵列共形涂层以实现稳定光电化学水分解器件方面的有效性。
研究不足
该研究指出,微柱器件并未像平面器件那样因Cu2O/CuO异质结层而表现出性能提升,这表明某些优化方案在不同器件架构中的应用可能存在局限性。
1:实验设计与方法选择:
本研究通过脉冲激光沉积(PLD)制备了具有ZnO和TiO2钝化层的串联Si/Cu2O微柱阵列器件,探究了微柱阵列光电化学(PEC)器件几何结构变化对光吸收和起始电位(Voc)的影响。
2:样品选择与数据来源:
采用深反应离子刻蚀(DRIE)制备了具有径向pn结的垂直有序微柱阵列衬底。
3:实验设备与材料清单:
设备包括用于中间层沉积的磁控溅射系统、用于ZnO和TiO2覆盖层沉积的PLD,以及用于表征的扫描电子显微镜(SEM)。
4:实验步骤与操作流程:
制备过程包括通过计时电流电沉积法在导电Si/ITO-Au平面及微柱阵列衬底上沉积Cu2O,随后通过热退火形成Cu2O/CuO异质结。
5:数据分析方法:
通过光电化学(PEC)测量、JV特性曲线及稳定性测试评估器件性能。
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